[发明专利]在成像质谱法中跨越长测量时间段维持光谱质量

权利要求书

1.一种用于在薄样品切片上实施成像质谱法的方法，在具有离子检测器的质谱仪中借助像素图案从所述薄样品切片上连续地获取大量的质谱图，以记录所述薄样品切片中的信号的分布，其中，调节离子检测器的电压使得由所述离子检测器横跨所述质谱图中的选定质量范围测量到并得到相加的离子电流能够跨越多个质谱图的测量长期在目标值保持恒定，以便跨越一段多个小时的时间维持所述质谱图的质量，直到所述测量结束为止。

2.根据权利要求1所述的方法，其中，通过基质辅助激光解吸法来实现所述薄样品切片的分子的电离。

3.根据权利要求2所述的方法，其中，所测量的离子电流包括基质离子的至少一部分。

4.根据权利要求1所述的方法，其中，通过飞行时间质谱仪、离子回旋共振质谱仪或质量过滤器来获取所述质谱图。

5.根据权利要求1所述的方法，其中，所测量的离子电流代表跨越完整质谱图的总离子数或所述完整质谱图的一部分的离子电流。

6.根据权利要求1所述的方法，其中，所述离子检测器的电压调节的时钟脉冲速率在所述测量开始时具有预定值，并且跨越所述测量的进一步过程变为较低的预定值。

7.根据权利要求1所述的方法，其中，通过跨越若干质谱图形成平均值来确定所述离子电流。

8.根据权利要求7所述的方法，其中，横跨数百至数千个像素形成滑动平均值，或者形成每个情况中的横跨数百或数千个像素的一系列平均值，即“区段平均值”。

9.根据权利要求7所述的方法，其中，在所述质谱图的获取期间，以预定的时间漂移值连续地虚拟改变所述离子检测器的电压，并且当所述离子电流的平均值不再随时间保持恒定时，校正所述漂移值。

10.根据权利要求9所述的方法，其中，由直线来确定时间恒定性，将所述直线应用于平均值的曲线并且使用所述直线的梯度来计算漂移值。

11.根据权利要求9所述的方法，其中，通过计算相继的平均值之间的差异来形成所述平均值的曲线的导数曲线，形成所述导数曲线的方差的分布曲线，并且使用所述分布曲线的质心与零的偏差来计算离子电流漂移校正。

12.根据权利要求1所述的方法，其中，所述薄样品切片中的信号源自肽、脂质、磷酸化分子、药剂和/或用于异常组织状态的复合标记，所述异常组织状态包括致癌性退变。

13.根据权利要求1所述的方法，其中，所述质谱图的获取速率在千赫兹范围内，而每像素10到1,000个质谱图加起来以形成总谱图。