[发明专利]保护集成电路中敏感资料的方法及集成电路在审

专利信息
申请号: 202010081472.X 申请日: 2020-02-06
公开(公告)号: CN112926100A 公开(公告)日: 2021-06-08
发明(设计)人: 艾伦·麦克尼尔·卡尔 申请(专利权)人: 瑞昱新加坡有限公司
主分类号: G06F21/75 分类号: G06F21/75
代理公司: 北京天驰君泰律师事务所 11592 代理人: 孟锐
地址: 新加坡国际商务园*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 保护 集成电路 敏感 资料 方法
【说明书】:

发明涉及一种保护集成电路内的敏感资料序列的方法。该方法包含依据储存于该集成电路的种子序列产生伪随机序列,结合敏感资料序列及伪随机序列以产生保护资料序列,及储存保护资料序列于该集成电路。保护资料序列无法由集成电路外部被存取。

技术领域

本发明关于资料安全性,特别是一种保护集成电路中敏感资料的方法及使用该方法的集成电路。

背景技术

电子装置有赖于密码系统为应用程序及相关资料提供安全性。密码系统往往是未授权攻击者的目标,未授权攻击者会试图访问应用程序或装置或试图收集敏感信息,如信用卡卡号或加密密钥等。许多种工具及方法都可用于提取电子装置的安全资讯,包含直接攻击,针对目标加密系统采用的加密算法弱点进行攻击,及旁路攻击,依据从实体实现之密码系统所收集到的资讯来进行攻击。旁路攻击(side-channel attacks)尝试通过测量密码系统的物理特性,例如密码系统的功率消耗,或通过光学检测,例如高解析相机或显微镜检测来导出敏感资讯。

功率监控攻击通过在执行密码操作时测量装置所抽取的电流来监控密码系统的功率消耗,并且从功率消耗推导密码操作或敏感资料。功率攻击能够获取密码系统执行的指令序列。差分功率分析(Differential power analysis,DPA)攻击结合基础功率监视攻击的功率测量及统计分析以提取密码密钥的资讯或密码操作中使用的敏感资料。统计工具用来对电位差值及功耗测量进行相关程序以获得敏感资讯。

光学攻击使用高倍率装置,如透射电子显微镜(transmissionelectronmicroscope,TEM)来读取并推断密码密钥或其它敏感资料。

发明内容

本发明实施例提供一种集成电路,包含种子暂存器、伪随机序列产生器、结合器及非挥发性存储器。种子暂存器用以储存种子序列。伪随机序列产生器用以依据种子序列产生伪随机序列。结合器用以结合第一资料序列及伪随机序列以产生第二资料序列,第二资料序列无法由集成电路之外被存取。非挥发性存储器耦接于结合器,用以储存第二资料序列。

本发明实施例另提供一种保护集成电路内的敏感资料序列的方法,包含:依据储存于该集成电路内的种子序列产生伪随机序列;结合敏感资料序列及伪随机序列以产生保护资料序列,保护资料序列无法由集成电路外部存取;及储存保护资料序列。

附图说明

图1为本发明实施例的集成电路的方块图。

图2显示16位元线性反馈移位暂存器的示意图。

图3为本发明实施例的另一种集成电路的方块图。

图4为保护第1图集成电路的敏感资料序列之方法的流程图。

【符号说明】

1、3:集成电路

10:种子暂存器

12:加扰器

120、320:伪随机序列产生器

122、322:结合器

14:非挥发性存储器

16:区域选择器

20:线性反馈移位暂存器

30:处理器

32:解扰器

Dss:种子序列

Drs:伪随机序列

Dks:敏感资料序列

Dps:保护资料序列

Af:初始区域位址

Awrt:写入位址

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