[发明专利]基于传感器矩阵的样品检测板和样品检测方法

权利要求书

1.一种基于传感器矩阵的样品检测板，应用于样品架，所述样品架具有多个供样品容器插入的孔位，其特征在于，所述基于传感器矩阵的样品检测板被设置于样品架的底部，所述基于传感器矩阵的样品检测板包括：传感器，所述传感器设置于所述基于传感器矩阵的样品检测板的表面，且与所述孔位对齐，用于检测所述孔位中是否插入有样品容器。

2.根据权利要求1所述的基于传感器矩阵的样品检测板，其特征在于，所述传感器的数量为多个，所述多个传感器以矩阵方式排列，且所述多个传感器与所述样品架的孔位一一对齐。

3.根据权利要求1所述的基于传感器矩阵的样品检测板，其特征在于，所述传感器包括：接近传感器或者接触传感器；其中，所述接近传感器包括以下之一：射频识别阅读器、光电式接近传感器、磁电传感器、电容式传感器、电感式传感器；所述接触传感器包括：压力式电阻开关。

4.根据权利要求1所述的基于传感器矩阵的样品检测板，其特征在于，所述基于传感器矩阵的样品检测板还包括：检测处理单元，所述检测处理单元包括供电端和检测端，其中，所述传感器的输入端电连接于所述供电端、所述传感器的输出端电连接于接地端，且所述检测端电连接于所述传感器的输入端；所述传感器用于根据是否检测到所述孔位中插入有样品容器而接通或断开；所述检测处理单元用于通过所述供电端为所述传感器供电，以及通过所述检测端检测所述传感器的输入端的电平状态。

5.根据权利要求4所述的基于传感器矩阵的样品检测板，其特征在于，所述传感器的数量为多个，所述多个传感器以矩阵方式排列，其中，相同行号的所述传感器的输入端并联在与该相同行号对应的供电端上；相同列号的所述传感器的输入端与该相同列号对应的检测端电连接。

6.根据权利要求5所述的基于传感器矩阵的样品检测板，其特征在于，所述传感器为反射式光电耦合器，所述反射式光电耦合器包括发光部和光电转换部；其中，所述发光部的输入端和所述光电转换部的输入端电连接，并作为所述反射式光电耦合器的输入端；所述发光部的输出端和所述光电转换部的输出端电连接，并作为所述反射式光电耦合器的输出端。

7.根据权利要求5所述的基于传感器矩阵的样品检测板，其特征在于，所述基于传感器矩阵的样品检测板还包括：检测触发单元，所述检测触发单元电连接于所述检测处理单元，用于检测所述样品架是否被使用，以及在样品架被使用后生成检测触发信号给所述检测处理单元，其中，所述检测触发信号用于指示所述检测处理单元获取所述多个传感器中每个传感器的输入端的电平状态。

8.一种样品检测方法，应用于权利要求1至7中任一项所述的基于传感器矩阵的样品检测板，所述基于传感器矩阵的样品检测板被放置于所述样品架的底部，其特征在于，所述方法包括：

在所述传感器上电后，获取所述传感器的检测结果；

根据所述检测结果，确定所述样品架上的样品的取用状态。

9.根据权利要求8所述的样品检测方法，其特征在于，在获取所述传感器的检测结果之前，所述方法还包括：

接收检测触发信号；

根据所述检测触发信号，为所述传感器上电。

10.根据权利要求8所述的样品检测方法，其特征在于，在所述基于传感器矩阵的样品检测板为权利要求5所述的基于传感器矩阵的样品检测板的情况下，在所述传感器上电后，获取所述传感器的检测结果包括：

通过所述供电端为所述多个传感器中具有相同行号的一行传感器上电；

通过所述检测端检测这一行传感器中具有不同列号的传感器的输入端的电平状态，并将所述电平状态作为行列交叉点对应的传感器的检测结果；其中，所述电平状态中的高电平表示与该传感器对应的孔位中未插入有样品容器，所述电平状态中的低电平表示与该传感器对应的孔位中插入有样品容器。