[发明专利]一维测量机和记录介质在审

专利信息
申请号: 202010079659.6 申请日: 2020-02-04
公开(公告)号: CN111521090A 公开(公告)日: 2020-08-11
发明(设计)人: 藤原秀朗;金松敏裕 申请(专利权)人: 株式会社三丰
主分类号: G01B5/02 分类号: G01B5/02;G01B5/008
代理公司: 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 代理人: 刘新宇
地址: 日本神*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 测量 记录 介质
【权利要求书】:

1.一种一维测量机,通过以下处理来实现与测量对象物内的多个测量要素中的各测量要素有关的二维坐标的测量:针对所述测量对象物的各所述测量要素测量一维坐标,在使所述测量对象物沿规定方向旋转规定角度之后,针对旋转后的所述测量对象物的各所述测量要素测量一维坐标,

所述一维测量机的特征在于,具备:

显示部;

显示控制单元,其基于第一输入信息,来使所述显示部显示所述测量对象物内的所述多个测量要素中的各测量要素的大致配置和测量顺序,基于第二输入信息,来使所述显示部显示以维持着各所述测量要素的位置关系的状态将所述配置整体沿所述规定方向旋转规定角度后的所述多个测量要素中的各测量要素的配置和测量顺序;以及

输入部,其受理所述第一输入信息和所述第二输入信息的输入。

2.根据权利要求1所述的一维测量机,其特征在于,

所述显示控制单元将在正在进行基于所述第一输入信息的显示的期间内进行的所述测量对象物的一维坐标的测量的结果反映在所述配置的显示中,并且将在正在进行基于所述第二输入信息的显示的期间内进行的旋转后的所述测量对象物的一维坐标的测量的结果反映在所述配置的旋转后的显示中。

3.一种记录介质,记录用于使计算机作为根据权利要求1或2所述的一维测量机的显示控制单元来发挥功能的程序。

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