[发明专利]检测器模块、检测器及CT设备

权利要求书

1.一种检测器模块，用于探测CT主机的X射线源发出的经扫描对象衰减后的射线，其特征在于，该检测器模块包括支架和安装于所述支架的多个检测器子模块，其中，

每个检测器子模块包括接收射线的顶表面，所述多个检测器子模块的顶表面沿所述CT主机的CT旋转系统的Z向弧形排列或者直线排列；

多个所述检测器子模块的顶表面在CT旋转系统的YZ平面构成与所述X射线源的照射域对应的接收域，该接收域相对于所述X射线源的焦点参考面非对称，所述焦点参考面穿过所述X射线源的焦点中心且平行于CT旋转系统的XY平面。

2.根据权利要求1所述的检测器模块，其特征在于，所有的检测器子模块的顶表面分布在以所述X射线源的焦点中心为圆心的同一个目标圆的圆弧上，或者，多个所述检测器子模块的顶表面分布在以所述X射线源的焦点中心为圆心，半径不相等的目标圆的圆弧上。

3.根据权利要求2所述的检测器模块，其特征在于，靠近所述焦点参考面两侧的所述检测器子模块的顶表面相切的目标圆的半径为Rc，远离所述焦点参考面的所述检测器子模块的顶表面相切的目标圆的半径为Rf，RcRf。

4.根据权利要求1所述的检测器模块，其特征在于，所述焦点参考面一侧的检测器子模块的顶表面沿所述Z向的宽度之和大于所述焦点参考面另一侧的检测器子模块的顶表面沿所述Z向的宽度之和以使得所述接收域相对于所述焦点参考面非对称。

5.根据权利要求1或4所述的检测器模块，其特征在于，所述X射线源包括靶盘，靠近所述靶盘的接收域小于远离所述靶盘的接收域。

6.根据权利要求1所述的检测器模块，其特征在于，所述多个检测器子模块的顶表面在所述Z向上的宽度相等或者不相等。

7.根据权利要求1所述的检测器模块，其特征在于，靠近所述焦点参考面的检测器子模块的顶表面在X向的宽度大于远离所述焦点参考面的检测器子模块的顶表面在X向的宽度以使得所述顶表面在X向的宽度自所述焦点参考面沿Z向向远离所述焦点参考面的方向呈现减小的趋势。

8.根据权利要求7所述的检测器模块，其特征在于，所述靠近所述焦点参考面的检测器子模块的顶表面在X向的宽度大于远离焦点参考面的检测器子模块的顶表面在X向的宽度还包括：与焦点参考面距离相等的检测器子模块的顶表面在X向的宽度相等，或者，与焦点参考面相距预设距离之外的预设范围内的多个检测器子模块的顶表面在X向的宽度相等；或者，与焦点参考面相距所述预设距离之外的预设范围内的多个检测器子模块为长方体，且该预设范围内的每个检测器子模块的顶表面在X向的宽度相等、在Z向的宽度相等以及每个检测器子模块在Y向的高度相等。

9.根据权利要求7至8任何一项所述的检测器模块，其特征在于，所述多个检测器子模块中，至少一个检测器子模块的所述顶表面的形状为梯形。

10.根据权利要求9所述的检测器模块，其特征在于，所述梯形为等腰梯形。

11.根据权利要求9所述的检测器模块，其特征在于，每个所述检测器子模块包括闪烁体像素阵列，该阵列的每个闪烁体像素包括接收所述射线的顶表面；

顶表面的形状为梯形的检测器子模块的闪烁体像素阵列包括沿所述Z向并位于所述阵列两侧的边缘闪烁体像素，每个边缘闪烁体像素的顶表面的形状为梯形。

12.根据权利要求11所述的检测器模块，其特征在于，所述闪烁体像素阵列的所有闪烁体像素的顶表面均为梯形；

或者，所述闪烁体像素阵列包括位于边缘闪烁体像素之间的中间闪烁体像素，所述边缘闪烁体像素的顶表面为梯形，所述中间闪烁体像素的顶表面为矩形。