[发明专利]一种金属加工区域提取方法

权利要求书

1.一种金属加工区域提取方法，其特征在于，包括：

S1、基于金属表面图像中金属表面的镜面反射强度差异提取显著性图，包括，S101、对金属表面图像进行高斯滤波得到各像素点像素值；S102、将高斯滤波后的金属表面图像转入lab颜色空间，计算各像素点在lab颜色空间中l、a及b三个通道的像素平均值；S103、计算各像素点的像素值及像素平均值的欧氏距离作为对应像素点在显著性图中的像素值，得到显著性图；

S2、将显著性图二值化并去噪，得到加工区域掩模图像，包括，S201、将显著性图中像素值低于预设阈值k的像素点的像素值置为第一像素值，大于或等于预设阈值k的像素点的像素值置为第二像素值，得到二值化图；S202、将二值化图进行中值滤波和/或形态学运算得到加工区域掩模图像；

S3、将金属表面图像与掩模图像进行与运算提取出加工区域图。

2.根据权利要求1所述的金属加工区域提取方法，其特征在于，预设阈值k的计算方法包括：

S2011、基于下式计算显著性图的相对直方图p_i：

WD＝n₁+n₂+n₃+···+n_L

p_i＝n_i/WD

式中，L为预设灰度级数，n_i为第i个灰度级数所包含的像素点个数，WD为金属表面图像的像素点总数；

S2012、基于下式计算后景累计概率P_C1(k)与前景累计概率P_C2(k)：

式中，C₁和C₂分别表示金属表面加工区域与背景区域，背景区域的灰度级数范围为[1,k]，金属表面加工区域灰度级数范围为[k+1,L]；

S2013、基于下式计算后景与前景的灰度均值m_C1(k)与m_C2(k)

S2014、基于下式计算金属表面图像全局均值m_G：

S2015、基于下式计算类间方差

S2016、基于下式计算预设阈值k：

3.根据权利要求1所述的金属加工区域提取方法，其特征在于，中值滤波公式如下：

式中，S_xy表示的是金属表面图像的像素点的坐标范围，S_j(x,y)表示的是在中心点为x,y的j*j大小的滤波核内的像素值，f(x,y)为对滤波核内像素点进行中值排序后输出的像素点值。

4.根据权利要求1所述的金属加工区域提取方法，其特征在于，形态学运算包括对二值化图或中值滤波后的二值化图进行先膨胀后腐蚀的形态学闭运算，形态学闭运算的迭代预设次数；

膨胀运算公式：

腐蚀运算公式：

式中，A为金属表面图像；B为结构元，x,y为金属表面图像的像素点的坐标，(B)_xy为结构元的中心所在位置。

5.根据权利要求1所述的金属加工区域提取方法，其特征在于，步骤S3包括：

将金属表面图像中与加工区域掩模图像中像素值为第一像素值的像素点对应的像素点的像素值置0，得到加工区域图。