[发明专利]用于测量直流电流和交流电流的传感器设备

权利要求书

1.一种用于测量通过导体（2）的直流电流和交流电流的传感器设备（1），其中该传感器设备（1）具有罗氏线圈（3），其中该罗氏线圈（3）的主延伸平面与该导体（2）的主延伸方向大体上正交，其中该导体（2）被该罗氏线圈（3）围绕，其特征在于，该传感器设备（1）具有多个磁场传感器（4），其中这些磁场传感器（4）被布置在该罗氏线圈（3）的主延伸平面中，并且其中该罗氏线圈（3）被布置在该导体（2）与这些磁场传感器（4）之间。

2.根据权利要求1所述的传感器设备（1），其中这些磁场传感器（4）是霍尔传感器。

3.根据权利要求1或2所述的传感器设备（1），其中这些磁场传感器（4）被布置在围绕该导体（2）的环形面上。

4.根据权利要求1或2所述的传感器设备（1），其中这些磁场传感器（4）被布置成使得这些磁场传感器（4）的测量方向与该罗氏线圈（3）相切并且沿着该罗氏线圈（3）的主延伸平面。

5.根据权利要求1或2所述的传感器设备（1），其中该传感器设备（1）具有用于评估这些磁场传感器（4）的测量值的评估电子器件。

6.根据权利要求5所述的传感器设备（1），其中该评估电子器件具有低通滤波器（9）。

7.根据权利要求5所述的传感器设备（1），其中该评估电子器件针对每个磁场传感器（4）具有前置放大器（7），其中该评估电子器件具有放大器（10）。

8.根据权利要求5所述的传感器设备（1），其中该评估电子器件具有用于共用地放大所有磁场传感器（4）的前置放大器（7），其中该评估电子器件具有放大器（10）。

9.根据权利要求5所述的传感器设备（1），其中该评估电子器件被配置为用于产生校正值。

10.根据权利要求3所述的传感器设备（1），其中该导体（2）被布置在该环形面的中心点。

11.根据权利要求3所述的传感器设备（1），其中沿着该环形面的相邻的磁场传感器（4）之间的间距是相等的。

12.根据权利要求5所述的传感器设备（1），其中该评估电子器件是模拟评估电子器件。

13.根据权利要求7所述的传感器设备（1），其中这些前置放大器（7）被配置为用于各自以前置放大系数进行前置放大，其中这些前置放大系数与相应的磁场传感器（4）至其最相邻的磁场传感器（4）的间距成比例。

14.根据权利要求9所述的传感器设备（1），其中该评估电子器件被配置为：用于产生这些磁场传感器（4）的测量值的平均值；用于产生相应的磁场传感器（4）的差值，其中该差值为相应的磁场传感器（4）的测量值与该平均值之差；并且用于从这些差值产生该校正值。

15.一种借助根据权利要求1-14中任一项所述的传感器设备（1）来测量流动通过导体（2）的直流电流和交流电流的方法，其中借助该罗氏线圈（3）来测量交流电流并且借助这些磁场传感器（4）来测量直流电流。