[发明专利]一种在线刻写具有高旁瓣抑制比光栅的装置和方法有效
| 申请号: | 202010071566.9 | 申请日: | 2020-01-21 |
| 公开(公告)号: | CN111208603B | 公开(公告)日: | 2021-07-09 |
| 发明(设计)人: | 余海湖;邹慧茹;高文静;郑羽;李政颖;江山;郭会勇;徐一旻 | 申请(专利权)人: | 武汉理工大学;武汉烽理光电技术有限公司 |
| 主分类号: | G02B6/02 | 分类号: | G02B6/02 |
| 代理公司: | 湖北武汉永嘉专利代理有限公司 42102 | 代理人: | 孙方旭 |
| 地址: | 430070 湖*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 在线 刻写 具有 高旁瓣 抑制 光栅 装置 方法 | ||
1.一种在线刻写具有高旁瓣抑制比光栅的装置,其特征在于,包括激光器刻写装置、整形凹透镜、整形凸透镜、聚焦柱面透镜、渐变衰减片、相位掩模板,所述整形凹透镜和整形凸透镜成对使用,用于对激光器刻写装置发出的光束进行扩束整形;所述聚焦柱面透镜的聚焦点位于光纤所在位置后方1-2mm处,所述渐变衰减片位置位于聚焦柱面透镜后方3-5cm,所述相位掩模板位于裸纤前方3-5mm处,渐变衰减区域为线性递增和抛物线性递增,所述的衰减片其中心区域的衰减损耗低于上下边缘处,中心区域的衰减损耗最低处为0dB,上下边缘处最大损耗为80~100dB,所述渐变衰减区域的变化规律为,其中心向上下两侧损耗变化呈递进渐变关系。
2.根据权利要求1所述的在线刻写具有高旁瓣抑制比光栅的装置,其特征在于,所述的相位掩模板取决于刻写光栅所要求的中心波长,写入的光栅反射谱型中心波长λ与准分子激光器波长无关,由相位掩模板周期Λpm确定,具体关系式如下:
λ=neffΛpm
式中,λ为刻写光栅反射谱型的中心波长,neff为写入光栅所用光纤纤芯的有效折射率。
3.一种在线刻写具有高旁瓣抑制比光栅的方法,其特征在于,该方 法包括以下步骤:
步骤一,控制光纤的运动速度,预设激光器刻写装置参数,选择光束脉冲强度;
步骤二,调整整形透镜组,包括形凹透镜、整形凸透镜,获得刻写光栅的光斑长度;
步骤三,依据调整好的刻写光栅的光斑长度,选择具有匹配上下宽度的渐变衰减片;
步骤四,调整聚焦柱面透镜,使光束在水平方向进行聚焦,焦点位于光纤后方1~3mm;聚焦光束通过相位掩模板后曝光在裸纤上,完成光栅写入。
4.根据权利要求3所述的在线刻写具有高旁瓣抑制比光栅的方法,其特征在于,通过整形透镜组的调整,其光栅刻写长度的范围在6mm~10mm。
5.根据权利要求4所述的在线刻写具有高旁瓣抑制比光栅的方法,其特征在于,渐变衰减片的损耗渐变关系为线性、高斯、抛物线关系。
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