[发明专利]一种垂直相交孔的孔心距测量装置有效

专利信息
申请号: 202010068582.2 申请日: 2020-01-21
公开(公告)号: CN111174661B 公开(公告)日: 2021-08-24
发明(设计)人: 徐旭松;朱敏浩;叶超;许孟然;刘建;刘梦;曹清林;孙志英 申请(专利权)人: 江苏理工学院
主分类号: G01B5/02 分类号: G01B5/02;G01B5/14
代理公司: 常州佰业腾飞专利代理事务所(普通合伙) 32231 代理人: 常莹莹
地址: 213001 江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 垂直 相交 孔心距 测量 装置
【说明书】:

发明尤其涉及一种垂直相交孔的孔心距测量装置,包括基板、主竖直支架、主水平支架、副水平支架、第一连接架、第二连接架、第一测杆和第二测杆;主竖直支架沿水平方向与基板滑接,主水平支架沿竖直方向与主竖直支架滑接,副水平支架和第二连接架均沿水平方向与主水平支架滑接,副水平支架和第二连接架的滑动方向一致,第一连接架沿水平方向与副水平支架滑接,第一连接架与第二连接架的滑动方向相互垂直,第一测杆沿竖直方向与第一连接架滑接,第二测杆与第二连接架固定连接;第一测杆上固设有呈锥形的第一测头,第二测杆上固设有呈锥形的第二测头,第一测头和第二测头的轴线均朝向水平方向且相互垂直,第一测头和第二测头的小端相对设置。

技术领域

本发明属于孔加工测量技术领域,尤其涉及一种垂直相交孔的孔心距测量装置。

背景技术

随着机械生产技术的不断提高,用户对于产品的要求逐渐提高,相对的在机械生产中对于测量方面的要求也越来越高,例如垂直相交孔的孔心距等,原先对于这些方面的测量要求不是很高,只需要使用如游标卡尺或者孔距测量尺一类的传统测量工具,如孔距测量尺可以对垂直相交孔之间的孔心距进行大概的测量,对比要求是否符合要求,但是由于此类孔在现在加工中要求越来越高,游标卡尺测量孔的精度不是很高,虽能通过测量得到相应的数值,但很难得到准确的值,和现在不断提高的要求不匹配,而孔距测量尺虽然能够较好得到垂直相交孔之间的孔心距,但其受到工件结构的影响,很难全方面的测量大部分垂直相交孔的孔心距,因此传统测量工具要么测量不方便,要么效率较低并且精度不高。而现有的一些高精度测量装置能够达到要求,如三坐标测量能够准确的测量,并且具有很高的精度,但它检测成本高,不适合大批量检测。

发明内容

为解决现有技术存在的传统测量工具检测垂直相交孔的孔心距,操作不便、检测效率低和检测精度低的问题,本发明提供一种垂直相交孔的孔心距测量装置,能够克服目前存在问题,使测量更加高效,操作简单,结果精确,同时又能降低成本,适用范围较广,有一定的市场推广前景。

为解决上述技术问题,本发明所采用的技术方案如下,一种垂直相交孔的孔心距测量装置,包括基板、主竖直支架、主水平支架、副水平支架、第一连接架、第二连接架、第一测杆、第二测杆、第一测头和第二测头;

所述主竖直支架沿水平方向与基板滑动连接,所述主水平支架沿竖直方向与主竖直支架滑动连接,所述副水平支架和第二连接架均沿水平方向与主水平支架滑动连接,所述副水平支架和第二连接架的滑动方向一致,所述第一连接架沿水平方向与副水平支架滑动连接,所述第一连接架与第二连接架的滑动方向相互垂直,所述第一测杆沿竖直方向与第一连接架滑动连接,所述第一测头固定设置在第一测杆上,所述第二测杆与第二连接架固定连接,所述第二测头固定设置在第二测杆上;

所述第一测头和第二测头均呈锥形,所述第一测头和第二测头的轴线均朝向水平方向且相互垂直,所述第一测头和第二测头的小端相对设置。

作为优选,所述主竖直支架与基板、主水平支架与主竖直支架、副水平支架与主水平支架、第二连接架与主水平支架、第一连接架与副水平支架、以及第一测杆与第一连接架之间均通过滑槽和滑块结构滑动连接。滑槽和滑块结构简单可靠,便于操作,成本较低。

作为优选,所述基板的四周均开设有所述滑槽;所述副水平支架可沿主水平支架的两侧滑动设置。便于调整主竖直支架和副水平支架的测量位置,提高该孔心距测量装置的测量灵活性和测量精度,扩大该孔心距测量装置的适用范围。

作为优选,所述滑槽为十字滑槽。有效提高各部件滑动的精度,同时提高该孔心距测量装置的测量精度。

作为优选,所述滑块上设置有锁紧件,所述锁紧件包括锁紧螺钉,当所述锁紧螺钉与滑槽接触拧紧时,所述滑块锁紧定位在滑槽上。锁紧件的结构简单可靠,便于操作,成本较低,提高该孔心距测量装置测量时各部件锁紧定位的可靠性和稳定性,提高该孔心距测量装置的测量精度。

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