[发明专利]制动阀滑阀副平面度的检测装置及检测方法有效

专利信息
申请号: 202010065592.0 申请日: 2020-01-20
公开(公告)号: CN111238419B 公开(公告)日: 2021-10-01
发明(设计)人: 赵亚栋;吴天园;刘东明;孙刚;吴亮亮;刘新意;邱健;王福全;孟凡义 申请(专利权)人: 中车齐齐哈尔车辆有限公司
主分类号: G01B11/30 分类号: G01B11/30;G01B11/24
代理公司: 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 代理人: 刘娜
地址: 161002 黑龙江*** 国省代码: 黑龙江;23
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摘要:
搜索关键词: 制动 滑阀 平面 检测 装置 方法
【说明书】:

发明提供了一种制动阀滑阀副平面度的检测装置及检测方法。其中,制动阀滑阀副平面度的检测装置包括:第一光源;干涉采集器;第一偏光片,第一光源发出的光束在经过第一偏光片时分成反射的参考光束和透射的检测光束,检测光束穿过第一偏光片后被待测工件反射后逆向照射在第一偏光片,且在第一偏光片的反射下射入干涉采集器;反光镜,参考光束反射到反光镜上,并在反光镜的至少一次反射下逆向穿过第一偏光片照射到干涉采集器上,检测光束和参考光束在干涉采集器上形成干涉图像;显示设备,显示设备与干涉采集器连接,并将干涉图像显示出来。本发明解决了现有技术中无法对制动阀滑阀副的平面度进行有效检测的问题。

技术领域

本发明涉及制动阀技术领域,具体而言,涉及一种制动阀滑阀副平面度的检测装置及检测方法。

背景技术

制动阀阀是制动系统的核心部件。采用滑阀机构的制动阀的心脏是滑阀副——滑阀与主阀体的滑阀座配合副、节制阀与滑阀的配合副(统称为滑阀副)。共3个零部件、4个配合面,各配合面均采用研磨加工,要求平面度达到6μm,表面粗糙度达到Ra0.2μm。此4个面的加工质量直接影响各配合副的密封性,一旦密封失效则有可能导致各通气孔向外漏泄或互相串风,致使制动、缓解失效。目前各面研磨后的质量(平面度、粗糙度)没有有效的检测手段,仍主要依靠操作者经验进行判断,缺乏量化手段及指标。因此急需研发一种可靠的检测工艺及装备,用于生产现场的实物检测。

目前常用的平面度检测方法有以下两种:

专用检测仪取点检测:采用类似与三坐标取点检测的方法。其检测原理是在一块标准的平面平板上安装一定数量的精密气动量规,将平板与工件密贴后,由气动量规检测出该点与标准平板间的间隙,以此得出工件该点与标准平板之间的高度差,再由计算机拟合为虚拟平面,以此量化工件平面度的误差。从滑阀副的作用原理来讲,无论哪两个面密贴之后,都应实现机械密封,不仅密封面的各孔不能向外漏泄,各孔之间也不能串风,因此需要工件配合面整个表面的平面度均达到技术要求的指标。任何一点的局部凹下都有可能造成密封失效。而上述的检测方法只是在局部取点测量,无法充分反映整个配合面的实际状态,并不适合滑阀副检测。

间接检测法:采用的是功能性检测的方式,将被测平面与一标准平面密贴,将工件上的孔封闭后抽真空,通过真空度来判断二者的密封程度,间接评价被测面的平面度。由于此种方法属于间接评价法,因而并不能实现对工件的平面度指标的检测,且检测的重复精度不高

发明内容

本发明的主要目的在于提供一种制动阀滑阀副平面度的检测装置及检测方法,以解决现有技术中无法对制动阀滑阀副的平面度进行有效检测的问题。

为了实现上述目的,根据本发明的一个方面,提供了一种制动阀滑阀副平面度的检测装置,包括:第一光源;干涉采集器;第一偏光片,第一偏光片位于第一光源和待测工件之间,且第一光源发出的光束在经过第一偏光片时分成反射的参考光束和透射的检测光束,检测光束穿过第一偏光片后照射在待测工件上,并被待测工件反射后逆向照射在第一偏光片背离第一光源的一侧,且在第一偏光片的反射下射入干涉采集器;反光镜,反光镜位于第一偏光片远离干涉采集器的一侧,参考光束反射到反光镜上,并在反光镜的至少一次反射下逆向穿过第一偏光片照射到干涉采集器上,检测光束和参考光束在干涉采集器上形成干涉图像;显示设备,显示设备与干涉采集器连接,并将干涉图像显示出来。

进一步地,第一光源发出的光束的波长为500至760nm,且第一光源采用激光光源。

进一步地,第一光源发出的光束的波长为635nm。

进一步地,检测装置还包括调整平台,调整平台位于第一偏光片远离第一光源的一侧,待测工件放置在调整平台上,且调整平台的工作表面的倾斜程度能够调节。

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