[发明专利]平行平面透明固体材料折射率的测量方法在审
| 申请号： | 202010057393.5 | 申请日： | 2020-01-19 |
| 公开（公告）号： | CN111207911A | 公开（公告）日： | 2020-05-29 |
| 发明（设计）人： | 李大伟;刘晓凤;赵元安;连亚飞;朱美萍;易葵;邵建达 | 申请（专利权）人： | 中国科学院上海光学精密机械研究所 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02;G01N21/41 |
| 代理公司： | 上海恒慧知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 31317 | 代理人： | 张宁展 |
| 地址： | 201800 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 平行 平面 透明 固体 材料 折射率 测量方法 | ||
【权利要求书】：
1.一种平行平面透明固体材料折射率的测量方法，其特征在于，该测量方法包括如下步骤：
①搭建测量光路：在激光器(11)的输出光方向上同光轴依次放置聚焦透镜(12)和光束质量分析仪(14)，该光束质量分析仪(14)与计算机(15)相连；
②将待测平行平面透明固体材料(13)放置在所述的聚焦透镜(12)和光束质量分析仪(14)之间，且待测平面透明固体材料(13)靠近所述的聚焦透镜(12)，聚焦后的光束以近垂直角度入射到待测平行平面透明固体；
③沿光轴前后移动所述光束质量分析仪(14)，直到所述计算机(15)测量的光斑尺寸最小；
④利用卷尺(16)测量所述光束质量分析仪(14)到聚焦透镜(12)的距离，记做L1；
⑤移出待测平行平面透明固体材料(13)后，再次沿光轴前后移动所述光束质量分析仪(14)，直到所述计算机(15)测量的光斑尺寸最小；
⑥利用所述卷尺(16)测量所述光束质量分析仪(14)到聚焦透镜(12)的距离，记做L2；
⑦计算待测平行平面透明固体材料(13)的折射率n，公式如下：
公式中，d为待测透明固体材料(13)的厚度。
2.根据权利要求1所述的平面透明固体材料折射率的测量方法，其特征在于，所述的待测平行平面透明固体材料(13)的厚度d利用游标卡尺(17)测量得到。
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