[发明专利]一种多参量协同敏感的谐振式压力传感器及其制备方法在审

专利信息
申请号: 202010051945.1 申请日: 2020-01-17
公开(公告)号: CN111103073A 公开(公告)日: 2020-05-05
发明(设计)人: 许高斌;陈诚;马渊明;陈兴;余智 申请(专利权)人: 合肥工业大学
主分类号: G01L1/14 分类号: G01L1/14;G01L1/18;B81C1/00
代理公司: 合肥金安专利事务所(普通合伙企业) 34114 代理人: 金惠贞
地址: 230009 安*** 国省代码: 安徽;34
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摘要:
搜索关键词: 一种 参量 协同 敏感 谐振 压力传感器 及其 制备 方法
【权利要求书】:

1.一种多参量协同敏感的谐振式压力传感器,其特征在于:包括紧密连接的压力敏感材料层(1)和谐振器结构层(2);

与谐振器结构层(2)对应的压力敏感材料层(1)一侧面的中部开设有敞口状的空腔(19),空腔(19)两侧内底部分别设有硅岛(9);与硅岛(9)对应的压力敏感材料层(1)另一侧面的两侧分别设有盲孔状的凹槽,凹槽内底部设有压力敏感薄膜(8);

所述谐振器结构层(2)的中部设有谐振器(3),谐振器(3)位于所述空腔(19)中部的上方;谐振器结构层(2)的两侧分别开设有窗口,暴露出压力敏感材料层(1)上两侧的空腔(19);与每侧空腔(19)对应的谐振器结构层(2)上分别均布设有两个引线电极(14);

所述谐振器(3)包括主谐振梁(4)和位于主谐振梁(4)两侧的对称设置的谐振机构,所述主谐振梁(4)的两端分别位于两侧的空腔(19)上方;两侧谐振机构结构相同,所述谐振机构包括双面梳齿结构、一对侧梁(6)和质量块(12);所述双面梳齿结构包括两对电极和梳齿杆(5),每对电极由激励电极(10)和检测电极(11)组成,两对电极的激励电极(10)和检测电极(11)分别位于梳齿杆(5)的两侧,且激励电极(10)和梳齿杆(5)之间、检测电极(11)和梳齿杆(5)之间分别呈梳齿配合状态,形成差分电容检测机构;平行与梳齿杆(5)设有质量块(12),梳齿杆(5)的中部连接着质量块(12)一侧的中部;所述侧梁(6)为L型梁,一对侧梁(6)分别位于两只检测电极(11)的外部,且一对侧梁(6)的一端分别连接着质量块(12)另一侧的中部,一对侧梁(6)的另一端分别固定连接着压力敏感材料层(1),使一对侧梁(6)分别形成双端固支梁;质量块(12)另一侧的中部连接着主谐振梁(4)的中部;所述主谐振梁(4)的两端分别通过连接梁(13)连接着两侧硅岛(9)的顶部,一侧硅岛(9)和空腔(19)一侧的压力敏感材料层(1)之间设有温度传感器(15);所述温度传感器(15)为复合梁式温度传感器;

所述谐振式压力传感器的输入信号由所述激励电极(10)、引线电极(14)分别引入,输出信号由所述检测电极(11)引出。

2.根据权利要求1所述一种多参量协同敏感的谐振式压力传感器,其特征在于:所述复合梁式温度传感器包括悬臂梁(154),悬臂梁(154)的一侧上由下至上依次设有氧化硅层(153)、氮化硅层(152)和铝膜层(151);所述悬臂梁(154)的另一侧上设有两对压阻模块(156)构成的惠斯通等效电桥,所述惠斯通等效电桥的根部分别设有四个温度传感器电极(157);所述铝膜层(151)的一端与悬臂梁(154)的一端对齐,铝膜层(151)的另一端紧贴于压阻模块(156)的表面上。

3.根据权利要求1所述一种多参量敏感的谐振式压力传感器的制备方法,其特征在于操作步骤如下:

(1)备片

取一块370µm厚的双面抛光的硅片, 所述硅片为SOI硅片,SOI硅片由压力敏感材料层(1)和谐振器结构层(2)构成,其中,谐振器结构层(2)的厚度为48µm、压力敏感材料层(1)的厚度为320µm;

分别用双氧水和硫酸清洗SOI硅片,使两侧面上分别形成氧化硅层,在两侧面的氧化硅层上分别通过低压化学气相沉积一层氮化硅,所述氧化硅层和氮化硅层形成复合膜层(22),得到备片;

(2)一次光刻

在与压力敏感材料层(1)对应的备片侧面上进行光刻,显影限定与压力敏感薄膜(8)区域对应的复合膜层(22)范围,并利用四氟化碳(CF4)等离子刻蚀去除限定范围内的复合膜层(22);

(3)开凹槽

以四甲基氢氧化铵(TMAH)各向异性湿法刻蚀的方法对去除了复合膜层(22)的区域进行刻蚀,形成盲孔状的凹槽;并利用氢氟酸清洗,去除SOI硅片两侧面上的复合膜层(22);

(4)旋涂光刻胶

在SOI硅片的谐振器结构层(2)上旋涂一层光刻胶掩膜(21);

(5)二次光刻

通过带有图案的掩膜版(23)在光刻胶掩膜(21)上显影暴露出谐振器(3)的结构、悬臂梁(154)和边框(24);

(6)SF6等离子刻蚀

利用六氟化硫(SF6)等离子刻蚀的方法刻透谐振器结构层(2)和埋氧层(20),并利用氢氟酸清洗,去除谐振器结构层(2)上的光刻胶掩膜(21);

(7)深层反应离子刻蚀

在谐振器结构层(2)表面沉积一层氧化硅和氮化硅的复合膜,并利用深层反应离子刻蚀(DRIE)方法刻蚀去除谐振器(3)的结构和悬臂梁(154)之间底部、悬臂梁(154)和边框(24)之间底部的复合膜,剩余的复合膜作为各向异性湿法刻蚀的保护膜;

(8)各向异性湿法刻蚀

采用四甲基氢氧化铵(TMAH)各向异性湿法刻蚀方法, 在压力敏感材料层(1)的中部开设敞口状的空腔(19),并在谐振器(3)两侧的空腔(19)内分别形成硅岛(9),使谐振器(3)在两个硅岛(9)之间呈悬空状态;并利用氢氟酸清洗,去除谐振器结构层(2)上剩余的复合膜;在谐振器结构层(2)的边框(24)上掺杂高浓度硼离子得到电极14;

(9)制备电极、压阻和铝膜

在悬臂梁(154)上一侧通过掺杂高浓度硼离子形成温度传感器电极(157)和两对应力敏感的压阻模块(156);在悬臂梁154上另一侧通过低压化学气相沉积方法形成氧化硅层(153)和氮化硅层(152)作为绝缘介质,并在氧化硅层(153)和氮化硅层(152)上通过电镀形成铝膜层(151);

(10)硅硅键合

清洗去除加工过程的污染物残留,在谐振器结构层(2)上通过玻璃浆料硅硅键合设置盖帽硅层(17),实现谐振器(3)的真空封装。

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