[发明专利]一种手性化合物的检测方法有效
| 申请号: | 202010045747.4 | 申请日: | 2020-01-16 |
| 公开(公告)号: | CN113125547B | 公开(公告)日: | 2022-04-08 |
| 发明(设计)人: | 车顺爱;刘泽栖;段瑛滢 | 申请(专利权)人: | 同济大学 |
| 主分类号: | G01N27/72 | 分类号: | G01N27/72;G01N21/17;G01R33/032 |
| 代理公司: | 上海德昭知识产权代理有限公司 31204 | 代理人: | 卢泓宇 |
| 地址: | 200092 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 手性 化合物 检测 方法 | ||
1.一种手性化合物的检测方法,其特征在于,采用具有手性的光磁响应性材料作为基底材料与高斯计配合从而对手性化合物进行检测,包括如下步骤:
步骤 S1,将手性化合物的待测样品载置在基底材料上;
步骤 S2,用激光照射所述待测样品,用高斯计对所述激光照射所述待测样品后产生的磁场强度进行检测从而获得检测结果;
步骤 S3,对步骤 S2 检测得到的所述磁场强度进行分析,从而得到所述手性化合物中的对映体含量,
其中,照射所述待测样品的激光为非偏振光,
步骤 S3 的所述分析包括如下步骤:
步骤 S3-1,配制多个所述手性化合物的标准品,每个所述标准品中含有不同量的手性化合物的对映体;
步骤 S3-2,分别将各个所述标准品载置在所述基底材料上,分别采用所述激光进行照射并采用所述高斯计对所述激光照射所述待测样品后产生的磁场强度进行检测,从而得到各个所述标准品的被照射后所产生的磁场强度;
步骤 S3-3,将所述标准品和所述待测样品的所述磁场强度进行对比分析,得到所述待测样品中的所述手性化合物的所述对映体含量。
2. 根据权利要求 1 所述的手性化合物的检测方法,其特征在于:
其中,步骤 S1 中的具有手性的所述光磁响应性材料为金属纳米螺旋线阵列、复合金属纳米螺旋线阵列、金属氧化物纳米螺旋线阵列以及复合金属氧化物纳米螺旋线阵列中的一种或几种的混合物。
3. 根据权利要求1 所述的手性化合物的检测方法,其特征在于:
其中,步骤 S3-3 的所述对比分析为:根据标准品的磁场强度及对映体含量关系绘制标准曲线,根据该标准曲线以及待测样品的磁场强度得出手性化合物的对映体含量。
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