[发明专利]一种COG模组相邻PIN微短路的检测电路及方法

说明书

本发明公开一种COG模组相邻PIN微短路的检测方法，具体步骤为：S1、将被测COG模组的一个PIN电极引脚的开关K连接接入端A，其他PIN电极引脚连接接入端B；S2、测量PIN与其他PIN间的电压值U，计算PIN与其他PIN间的电阻R；S3、预设r为PIN电阻值的标准值，判断测得的电阻值R是否小于标准值r，还公开了一种检测电路，通过分压的方式来测量每个PIN的电压，利用差分电路和A/D模数转换以及MCU进行数据处理，达到对不良品在终端显示并告警的目的，本检测方法为全自动测量及检测数据，检测过程方便快捷，可以对不良品进行排查与清除，提高LCD产品质量，减轻员工工作强度，减少额外测试工序，且测试精度高。

技术领域

本发明涉及显示器技术领域，尤其涉及一种COG模组相邻PIN微短路的检测电路，还涉及一种COG模组相邻PIN微短路的检测方法。

背景技术

参照图1，在COG液晶模组产品相邻的PIN电极引脚由于ITO的蚀刻不良、邦定杂质、FPC柔性电路板蚀刻不良等因素的影响下很容易会造成相邻PIN电极引脚微短路。在生产测试画面时，使用8051MCU测试时，由于接触电阻过大会造成不稳定的显示异常或不显示。

而现有技术中，参照图5，常将相邻PIN分别接在VDD和VSS上，在电路上串联一个电阻和发光二极管，因为良品相邻的PIN电极引脚阻值很大，故电路的电流非常小，发光二极管也就不亮，而当相邻的PIN发生短路时，因电路的电流非常大，发光二极管会被点亮。此电路设计虽然简单，但是当相邻PIN间的短路电阻1k后，此时的电路电流并不能点亮发光二极管或刚刚能点亮发光二极管但很难被肉眼所观察到，对产品的测试准确度并不高，且此方法对PIN间的短路有效，但对于微短路却不能起到检测作用，因此在生产测试过程中还需增加检测工序，过程繁琐且工作效率低下。

发明内容

针对上述问题，本发明提出一种COG模组相邻PIN微短路的检测电路及方法，主要解决背景技术中的问题。

本发明提出一种COG模组相邻PIN微短路的检测电路，在被测COG模组的各PIN电极引脚端分别连接开关K，每个开关K都有2个接入端A和B，接入端A外接固定电阻以及电压为U₀的恒压源，接入端B接地。

进一步改进在于，所述检测电路还包括差分电路，所述差分电路依次与A/D转换器和微控制单元MCU连接，所述微控制单元MCU还与显示终端连接，所述差分电路测量得出每个通路的电压值，经A/D模数转换后发送到微控制单元MCU进行数据处理，显示终端显示每个被测PIN电阻的电阻值。

本发明还提出一种检测COG模组相邻PIN微短路的方法，包括以下步骤：

S1、将被测COG模组的一个PIN电极引脚的开关K连接接入端A，其他PIN电极引脚连接接入端B；

S2、测量PIN与其他PIN间的电压值U，计算PIN与其他PIN间的电阻R；

S3、预设r为PIN电阻值的标准值，判断测得的电阻值R是否小于标准值r，若判定结果为不小于，则检测结果为合格，进入下一个PIN的检测；若判定结果为小于，则检测结果为不合格；

S4、待全部的PIN电阻值测量完成后，对异常PIN电阻值在终端显示上进行提示并告警。

进一步改进在于，所述步骤S2中电阻R的计算公式为：

R＝100K×U/(U₀-U)

其中，100K为外接固定电阻的电阻值，U为被测PIN电极引脚与其他PIN电极引脚间的电压值，U₀为外接恒压源。

进一步改进在于，所述步骤S3中的标准值r的确定方式为：