[发明专利]屏幕检测和屏幕检测模型训练方法、装置及设备

说明书

本申请实施例提供一种屏幕检测和屏幕检测模型训练方法、装置及设备，该屏幕检测方法包括：获取第一图像中每个像素点的特征向量，所述第一图像为拍摄待检测屏幕得到的图像；根据所述第一图像中每个像素点的特征向量对所述第一图像中的像素点进行分类，根据分类结果得到所述待检测屏幕的检测结果。本申请实施例提供的方案，可用于屏幕的生产制造中，或带屏设备的屏幕组装环节前后等各个场景中，对这些场景下的屏幕进行缺陷检测和质量控制，提高屏幕检测的准确率。

技术领域

本申请涉及图像处理技术领域，尤其涉及一种屏幕检测和屏幕检测模型训练方法、装置及设备。

背景技术

在各电子设备屏幕的生产过程中，由于组装工艺或其他原因可能会对屏幕造成影响，使得屏幕上出现缺陷。

目前，主要是通过人工检测或者各种屏幕检测算法，对屏幕上的缺陷进行检测。然而，通过人工检测或屏幕检测算法对屏幕上的缺陷进行检测时，针对较小的屏幕缺陷检测的准确率较低，较难检测出仅包括几个像素点的微小缺陷。

发明内容

本申请实施例提供一种屏幕检测和屏幕检测模型训练方法、装置及设备，提高屏幕中微小缺陷检测的准确率。

第一方面，本申请实施例提供一种屏幕检测方法，当需要对屏幕进行检测时，可以首先获取第一图像中每个像素点的特征向量，并根据第一图像中每个像素点的特征向量对第一图像中的像素点进行分类，根据分类结果得到待检测屏幕的检测结果，其中，第一图像为拍摄待检测屏幕得到的图像。

在上述过程中，在对待检测屏幕拍摄得到第一图像后，获取的是第一图像中每个像素点的特征向量，然后根据像素点的特征向量将第一图像中的像素点进行分类，得到待检测屏幕的检测结果，检测的过程是针对第一图像中的像素点进行的，基于每个像素点的特征向量进行独立的判别，能够实现对第一图像的像素级分割，因此能够检测出待检测屏幕中像素级的微小屏幕缺陷，提高屏幕缺陷检测中针对微小缺陷的检测准确率。

在一种可能的实现方式中，可以通过如下方式来获取第一图像中每个像素点的特征向量：根据第一图像，确定多个三维特征图像，第一图像在横向包括M个像素点，第一图像在纵向包括N个像素点，各三维特征图像在横向包括M个像素点，各三维特征图像在纵向包括N个像素点，各三维特征图像的通道数为C，C为预设类别数；根据多个三维特征图像，获取第一图像中每个像素点的特征向量。

在一种可能的实现方式中，可以通过如下方式来确定多个三维特征图像：对第一图像进行多次特征提取处理，得到多个三维特征图像；其中，每两次特征提取处理中包括的特征提取操作的次数不同，特征提取操作包括卷积操作和采样操作。

在上述过程中，通过对第一图像进行特征提取处理，得到多个三维特征图像，其中，每次特征提取处理中的特征提取操作次数不同，得到的多个三维特征图像反映了第一图像中不同层次的特征，根据多个三维特征图像得到的第一图像中像素点的特征向量更有利于后续对像素点的分类。

在一种可能的实现方式中，针对任意一次特征提取处理，对第一图像进行特征提取处理，得到三维特征图像，包括：对第一图像执行卷积操作和下采样操作，得到K个下采样特征图像，第i个下采样特征图像的尺寸为i依次取1,2，……，K；根据K个下采样特征图像执行卷积操作和上采样操作，得到三维特征图像。

在一种可能的实现方式中，可以通过如下方式来得到K个下采样特征图像：对第一图像执行卷积操作，得到第一个下采样特征图像；对第一个下采样特征图像依次执行i次第一操作，得到第i+1个下采样特征图像，i依次取1,2，……，K-1，第一操作包括下采样操作和卷积操作。

在上述过程中，针对任意一次特征提取处理，通过对第一图像执行一次卷积操作和下采样操作后，会得到一个尺度不同的下采样特征图像。在对第一图像执行卷积操作得到第一个下采样特征图像后，通过对第一个下采样特征图像执行不同次数的第一操作，得到不同尺度下的下采样特征图像，从而提取到第一图像在不同尺度下的特征。