[发明专利]储存器件及其控制方法在审
申请号: | 202010025905.X | 申请日: | 2020-01-10 |
公开(公告)号: | CN112530462A | 公开(公告)日: | 2021-03-19 |
发明(设计)人: | 柏木一仁 | 申请(专利权)人: | 株式会社东芝;东芝电子元件及存储装置株式会社 |
主分类号: | G11B5/012 | 分类号: | G11B5/012;G11B5/02;G11B5/58 |
代理公司: | 北京市中咨律师事务所 11247 | 代理人: | 张谟煜;段承恩 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 储存 器件 及其 控制 方法 | ||
1.一种储存器件,具备:
存储介质;及
控制器,控制数据相对于所述存储介质的读出及写入,
所述控制器,
在所述数据的写入时,检测写入偏离轨道量比阈值大的写入偏离轨道,在检测到所述写入偏离轨道的情况下,中断所述数据的写入,所述写入偏离轨道量表示在所述数据的写入目的地的周边已记录的周边数据所受的影响度,
在所述写入偏离轨道量为所述阈值以下的情况下,计算写入速度的下降量和表示所述写入偏离轨道的程度的程度值中的至少一方,
基于所述下降量和所述程度值中的至少一方来变更所述阈值。
2.根据权利要求1所述的储存器件,
变更后的所述阈值基于写入速度容许界限与所述下降量之差、写入时间点下的所述阈值及比例系数来计算。
3.根据权利要求1所述的储存器件,
所述写入偏离轨道量是基于写入目标位置和写入头的位置而计算的定位误差量、或振动/冲击传感器的传感器输出值。
4.根据权利要求1所述的储存器件,
所述写入速度是每单位时间的写入传送量或每单位时间处理好的写入要求数。
5.根据权利要求1所述的储存器件,
所述控制器,
在所述写入偏离轨道量为所述阈值以下的情况下,基于所述写入偏离轨道的产生频度来计算所述下降量,
以使所述下降量为容许范围内的方式变更所述阈值。
6.根据权利要求5所述的储存器件,
所述下降量基于所述写入偏离轨道的产生频度、平均旋转等待时间及平均伺服采样周期来计算。
7.根据权利要求1所述的储存器件,
所述控制器,
在所述写入偏离轨道量为所述阈值以下的情况下,将某期间中的写入偏离轨道量的标准偏差作为所述程度值而算出,
基于所述程度值和所述阈值来计算新的阈值,
基于所述新的阈值来变更所述阈值。
8.根据权利要求7所述的储存器件,
在观察到通过了第N个伺服帧时的写入偏离轨道量的时间点下,所述标准偏差使用通过了第N-1个伺服帧时的标准偏差来计算,N是2以上的整数。
9.根据权利要求7所述的储存器件,
所述新的阈值基于所述标准偏差和当前的所述阈值来计算。
10.根据权利要求1所述的储存器件,
所述控制器,
在检测到所述写入偏离轨道的情况下,计算表示所述周边数据的至少一部分的读写品质的品质值,
基于所述下降量和所述程度值中的至少一方,以使所述品质值满足对于所述读写品质的品质基准的方式变更所述阈值。
11.根据权利要求10所述的储存器件,
所述品质值是位错误率或信噪比。
12.根据权利要求10所述的储存器件,
变更后的所述阈值通过将表示应该保证的读写品质的品质基准与所述品质值比较而求出。
13.根据权利要求12所述的储存器件,
所述控制器在所述品质值比所述品质基准高的情况下,停止所述阈值的缩紧,在所述品质值为所述品质基准以下的情况下,停止所述阈值的放宽。
14.根据权利要求1所述的储存器件,
所述控制器在预先设定的可变范围内变更所述阈值。
15.一种储存器件的控制方法,所述储存器件具备存储介质和控制数据相对于所述存储介质的读出及写入的控制器,
所述控制方法包括:
通过所述控制器,在所述数据的写入时,检测写入偏离轨道量比阈值大的写入偏离轨道,在检测到所述写入偏离轨道的情况下,中断所述数据的写入,所述写入偏离轨道量表示在所述数据的写入目的地的周边已记录的周边数据所受的影响度;
通过所述控制器,在所述写入偏离轨道量为所述阈值以下的情况下,计算写入速度的下降量和表示所述写入偏离轨道的程度的程度值中的至少一方;及
通过所述控制器,基于所述下降量和所述程度值中的至少一方来变更所述阈值。
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