[发明专利]LED显示面板的快速测试电路及其测试系统在审
申请号: | 202010019389.X | 申请日: | 2020-01-08 |
公开(公告)号: | CN112967642A | 公开(公告)日: | 2021-06-15 |
发明(设计)人: | 王英琪;颜家煌;袁山富;林建宏;魏其源 | 申请(专利权)人: | 重庆康佳光电技术研究院有限公司 |
主分类号: | G09G3/00 | 分类号: | G09G3/00 |
代理公司: | 深圳鼎合诚知识产权代理有限公司 44281 | 代理人: | 李发兵 |
地址: | 402760 重庆市璧*** | 国省代码: | 重庆;50 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | led 显示 面板 快速 测试 电路 及其 系统 | ||
本发明涉及显示设备技术领域,具体涉及一种LED显示面板的快速测试电路及其系统,其与显示面板相连接,包括:一个以上的测试组件,测试组件由奇数行引线联接点和偶数行引线联接点组成,奇数行引线联接点与显示面板中的扫描线传输区或数据线传输区中两根以上奇数行引线相接,偶数行引线联接点与显示面板中的扫描线传输区或数据线传输区中两根以上偶数行引线相接;且同一个所述测试组件中的奇数行引线联接点和偶数行引线联接点同时与测量仪表相连接;在本发明的系统中用户可通过测量仪表与电路中的测试组件进行相接,即可实现对电路进行检测,其降低了测试时的接线复杂度,便于生产操作,能对显示面板进行快速灵活的检测。
技术领域
本发明涉及显示设备技术领域,具体涉及一种LED显示面板的快速测试电路以及一种LED显示面板的快速系统。
背景技术
微型发光二极管(Micro LED),即发光二极管微缩化和矩阵化技术, 其具有良好的稳定性,寿命,以及运行温度上的优势,同时也承继了LED低功耗、色彩饱和度、反应速度快、对比度强等优点, 其具有极大的应用前景。
并且,由微型发光二极管制作成Micro LED显示器是显示设备未来的主流发展方向;在现今Micro LED显示器生产过程中,Micro LED显示器中的显示面板进行切割之前,为了检测其中的扫描线传输区及数据线传输区是否存在短路会进行电测实验。在电测实验时,会直接给显示面板的扫描线传输区及数据线传输区灌入电压进行测试,在测试完之后断电,直接对显示面板进行切割,切割完成后进行封装,最终组成显示模组产品。
在现有技术的LED显示面板的测试电路中,其显示面板中的扫描线传输区及数据线传输区每行走线均需要与电源的一个输出引脚一一相连接,其接线数量较多,且接线过程较为麻烦,不利于生产操作,无法对显示面板进行快速灵活的检测。
发明内容
为克服上述缺陷,本发明的目的即在于提供一种能对LED显示面板进行快速灵活检测的快速测试电路以及应用该电路的系统。
本发明的目的是通过以下技术方案来实现的:
本发明是一种LED显示面板的快速测试电路,所述快速测试电路与显示面板相连接,其包括:一个以上的测试组件,所述测试组件由奇数行引线联接点和偶数行引线联接点组成,所述奇数行引线联接点与所述显示面板中的扫描线传输区或数据线传输区中两根以上奇数行引线相接,所述偶数行引线联接点与所述显示面板中的扫描线传输区或数据线传输区中两根以上偶数行引线相接;且同一个所述测试组件中的所述奇数行引线联接点和所述偶数行引线联接点同时与测量仪表相连接。
在本发明中,所述测试组件的数量为三个,每个所述扫描线传输区或所述数据线传输区均与一个所述测试组件相连接。
在本发明中,在一个所述测试组件中,所述奇数行引线联接点和所述偶数行引线联接点的数量各为一个。
在本发明中,所述测试组件安装于所述显示面板的背板上。
在本发明中,每个所述扫描线传输区或所述数据线传输区中的所有奇数行引线均连接于与其对应的测试组件的所述奇数行引线联接点上,每个所述扫描线传输区或所述数据线传输区中的所有偶数行引线均连接于与其对应的测试组件的所述偶数行引线联接点上。
本发明是一种LED显示面板的快速测试系统,其包括:测量仪表、显示面板以及如上所述的快速测试电路,所述测量仪表的两根引线分别与一个所述测试组件中的奇数行引线联接点和偶数行引线联接点相连接。
在本发明中,所述显示面板包括:两个扫描线传输区和一个数据线传输区。
在本发明中,所述测量仪表的数量为三个,每个所述测量仪表均通过一个所述测试组件与一个所述扫描线传输区和一个所述数据线传输区相连接。
在本发明中,所述显示面板还包括:显示区,所述显示区中布置有μm级的LED。
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