[发明专利]一种测色仪和颜色测量方法

权利要求书

1.一种测色仪，其特征在于，包括：

积分球，所述积分球开设有用于对准样品的采样孔径，以及用于供所述样品的漫反射光线穿过的第一探测孔径；

连续谱光源，所述连续谱光源正对所述积分球的内部空间设置，用于向所述积分球内部投射连续谱光；

第一颜色测量设备，所述第一颜色测量设备正对所述第一探测孔径设置，用于接收所述采样孔径处的所述样品的漫反射光线并测量漫反射光线的光强；

漫反射膜片，所述漫反射膜片贴合所述积分球的内壁设置，且所述漫反射膜片与所述采样孔径和第一探测孔径对应的位置设有缺口。

2.如权利要求1所述的测色仪，其特征在于，所述积分球还开设有用于限定所述连续谱光源在所述积分球内能够直接照射的光斑范围的入光孔径，所述连续谱光源正对所述入光孔径设置，所述第一探测孔径和所述采样孔径避让所述连续谱光源通过所述入光孔径在所述积分球内壁直接照射的区域设置。

3.如权利要求1所述的测色仪，其特征在于，所述测色仪还包括用于将所述样品成像以供所述第一颜色测量设备测量的耦合透镜，所述耦合透镜设于所述第一颜色测量设备和所述第一探测孔径之间。

4.如权利要求3所述的测色仪，其特征在于，所述测色仪还包括均光玻璃，所述均光玻璃设置于所述耦合透镜对所述样品成像的位置处，且所述第一颜色测量设备正对所述均光玻璃设置。

5.如权利要求1所述的测色仪，其特征在于，所述测色仪还包括至少一个成像光阑，所述成像光阑设置于所述第一颜色测量设备和所述第一探测孔径之间。

6.如权利要求1所述的测色仪，其特征在于，所述测色仪还包括用于滤除杂光的第一消光管，所述第一消光管连接所述第一颜色测量设备和所述第一探测孔径，且所述第一消光管内壁设有消杂光结构。

7.如权利要求6所述的测色仪，其特征在于，所述消杂光结构包括环绕所述第一消光管内壁设置的齿状条纹；所述消杂光结构包括设置于所述第一消光管内壁的齿状凸起。

8.如权利要求1-7任一条所述的测色仪，其特征在于，所述测色仪还包括用于测量所述漫反射膜片的反射光光强的第二颜色测量设备，所述积分球还开设有第二探测孔径，所述第二颜色测量设备正对所述第二探测孔径设置，所述第一探测孔径、所述采样孔径和所述入光孔径避让所述第二颜色测量设备透过所述第二探测孔径能够直接观测到的所述积分球内壁的区域设置。

9.一种颜色测量方法，其特征在于，用于测量样品的反射率值，适用于如权利要求8所述的测色仪，包括：

获取校准参数：所述测色仪对标准样品进行测量，并记录测量所述标准样品时，所述第一颜色测量设备获取的所述标准样品的反射光光强，以及所述第二颜色测量设备在测量所述标准样品时获取的所述漫反射膜片的反射光光强；

获取光强：所述测色仪接收所述第二颜色测量设备获取的所述漫反射膜片的反射光光强，以及所述第一颜色测量设备获取的所述样品的反射光光强；

求解样品反射率：所述测色仪根据所述漫反射膜片的反射光光强和所述样品的反射光光强求解所述连续谱光源的光源衰减率，并根据所述光源衰减率对所述样品的反射光光强进行修正。

10.如权利要求9所述的颜色测量方法，其特征在于，在所述获取校准参数步骤中，所述标准样品包括标准白板和标准黑板，所述获取校准参数具体包括：

所述测色仪对标准白板进行测量，接收所述第一颜色测量设备获取的所述标准白板的反射光光强，以及第二颜色测量设备在测量所述标准白板时获取的所述漫反射膜片的反射光光强；

所述测色仪对标准黑板进行测量，接收所述第一颜色测量设备获取的所述标准黑板的反射光光强，以及第二颜色测量设备在测量所述标准黑板时获取的所述漫反射膜片的反射光光强。