[发明专利]机床、管理系统及工具劣化检测方法有效

专利信息
申请号: 202010017404.7 申请日: 2020-01-08
公开(公告)号: CN111451838B 公开(公告)日: 2022-10-28
发明(设计)人: 五十部学 申请(专利权)人: 发那科株式会社
主分类号: B23Q17/09 分类号: B23Q17/09;B23Q3/155
代理公司: 北京友联知识产权代理事务所(普通合伙) 11343 代理人: 尚志峰;汪海屏
地址: 日本国山梨县南都留*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 机床 管理 系统 工具 检测 方法
【权利要求书】:

1.一种机床,其特征在于,包括:

工具库,其收纳有多个工具;

主轴,其在所述工具库收纳的多个所述工具中选择其一进行保持;

光泽度测量部,其对所述工具的锥柄部的锥形外表面的光泽度进行测量;

劣化判断部,其基于由所述光泽度测量部测量的所述光泽度判断所述锥形外表面是否劣化;以及

通知部,其在由所述劣化判断部判断为所述锥形外表面劣化的情况下,向操作者通知所述锥形外表面存在劣化的情况。

2.根据权利要求1所述的机床,其特征在于,

所述劣化判断部在由所述光泽度测量部测量的所述光泽度为预定的阈值以下的情况下,判断为所述锥形外表面劣化。

3.根据权利要求1所述的机床,其特征在于,

所述劣化判断部在由所述光泽度测量部测量的所述光泽度随时间的变化量为预定的阈值以上的情况下,判断为所述锥形外表面劣化。

4.根据权利要求1至3中任一项所述的机床,其特征在于,

所述工具库具有固定部和旋转部,所述旋转部能够相对于所述固定部而绕预定的旋转轴旋转,并且所述旋转部具有在以所述预定的旋转轴为中心的周向上排列的多个工具保持部,

所述光泽度测量部固定于所述固定部,并对通过所述旋转部的旋转而配置于预定的测量位置的工具的所述锥形外表面的光泽度进行测量。

5.根据权利要求1至3中任一项所述的机床,其特征在于,

所述光泽度测量部固定于所述主轴的周围,并在所述工具库与所述主轴之间进行所述工具的交接时对相对于所述主轴而在沿着所述主轴的长边轴的方向上相对移动的所述工具的所述锥形外表面的光泽度进行测量。

6.根据权利要求2所述的机床,其特征在于,

根据所要求的工件的加工精度来设定所述预定的阈值。

7.根据权利要求1至3中任一项所述的机床,其特征在于,包括:

存储部,其存储和由所述光泽度测量部测量的光泽度与工件的加工品质之间的关系相关的学习用数据;以及

学习部,其使用所述存储部存储的所述学习用数据,学习所述锥形外表面是否劣化的判断基准。

8.根据权利要求4所述的机床,其特征在于,包括:

存储部,其存储和由所述光泽度测量部测量的光泽度与工件的加工品质之间的关系相关的学习用数据;以及

学习部,其使用所述存储部存储的所述学习用数据,学习所述锥形外表面是否劣化的判断基准。

9.根据权利要求5所述的机床,其特征在于,包括:

存储部,其存储和由所述光泽度测量部测量的光泽度与工件的加工品质之间的关系相关的学习用数据;以及

学习部,其使用所述存储部存储的所述学习用数据,学习所述锥形外表面是否劣化的判断基准。

10.根据权利要求6所述的机床,其特征在于,包括:

存储部,其存储和由所述光泽度测量部测量的光泽度与工件的加工品质之间的关系相关的学习用数据;以及

学习部,其使用所述存储部存储的所述学习用数据,学习所述锥形外表面是否劣化的判断基准。

11.一种管理系统,其特征在于,包括:

权利要求1至10中任一项所述的多台机床;以及

上位控制系统,其能够与所述多台机床中的各个机床通信。

12.根据权利要求11所述的管理系统,其特征在于,

在所述上位控制系统中,

从所述多台机床中的各个机床接收并存储学习用数据,所述学习用数据和由所述光泽度测量部测量的光泽度与工件的加工品质之间的关系相关,

使用所存储的所述学习用数据,学习所述锥形外表面是否劣化的判断基准。

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