[发明专利]显示面板和电子设备

说明书

本公开的一种实施方式的显示面板具备平坦化层和形成在平坦化层的表面侧的自发光元件。平坦化层具有第一开口部和第二开口部，第二开口部相比第一开口部形成在显示面板的边缘侧。该显示面板进一步具备1根或多根检测用布线。1根或多根检测用布线形成在与自发光元件的第一电极层同一的层内、与连接于自发光元件的第二电极层的第二布线同一的层内和第一电极层与第二布线之间的层内的任何一个层内，并且形成在第一电极层与平坦化层的第二开口部之间的区域。

技术领域

本公开涉及一种显示面板和电子设备。

背景技术

在使用有机EL(Electro Luminescence)元件等自发光元件的显示面板中，由于来自显示面板的边框部分的水分侵入，产生自发光元件的劣化，从而引起自发光元件的发光亮度下降、发光不稳定。因为水分从显示面板的边框部分侵入自发光元件，大多需要数百～数千小时；所以在显示面板出货前不容易检测显示不良，而担心出货后产生显示不良。因此，之前提出了：在显示面板中装载检测从显示面板的边框部分侵入的水分的机构，检测有可能在出货后产生显示不良的显示面板(例如参照下列专利文献1)。

现有技术文献

专利文献

专利文献1：日本特开2009-110865号公报

发明内容

但是，在专利文献1所述的发明中，即使实际上不可能产生显示不良，机构也可能查出水分。因此，期望提供一种可以高精度地检测有可能产生伴随来自边框部分的水分侵入的显示不良的显示面板，以及具备这样的显示面板的电子设备。

本公开的一种实施方式的显示面板具备平坦化层、自发光元件、第一布线、第二布线和1根或多根检测用布线。平坦化层具有第一开口部和第二开口部，第二开口部相比第一开口部形成在显示面板的边缘侧。自发光元件形成在平坦化层的表面侧，并且从平坦化层侧依次包括第一电极层、发光层和第二电极层。第一布线形成在平坦化层的背面侧，并且通过第一开口部与第一电极层连接。第二布线形成在平坦化层的背面侧，并且通过第二开口部与第二电极层连接。1根或多根检测用布线形成在与第一电极层同一的层内、与第二布线同一的层内和第一电极层与第二布线之间的层内的任何一个层内，并且形成在第一电极层与第二开口部之间的区域，与第一电极层、第二电极层、第一布线和第二布线电分离。

本公开的一种实施方式的电子设备在显示面上具备本公开的一种实施方式的显示面板。

在本公开的一种实施方式的显示面板和电子设备中，1根或多根检测用布线形成在与第一电极层同一的层内、与第二布线同一的层内和第一电极层与第二布线之间的层内的任何一个层内，并且形成在第一电极层与第二开口部之间的区域。由此，例如在覆盖自发光元件的无机绝缘膜上存在裂缝、孔等缺损的情况下，如果水分经由无机绝缘膜的缺损从第二开口部侵入，那么设置在比自发光元件更靠近第二开口部处的1根或多根检测用布线将检测出该水分。

根据本公开的一种实施方式的显示面板和电子设备，因为将1根或多根检测用布线形成在与第一电极层同一的层内、与第二布线同一的层内和第一电极层与第二布线之间的层内的任何一个层内，并且形成在第一电极层与第二开口部之间的区域；所以相比在与自发光元件周围的构造完全不同的构造内设置检测用布线的情况，能够高精度地检测显示面板，在该显示面板中，水分经由无机绝缘膜的缺损从第二开口部侵入并到达自发光元件而产生显示不良的可能性高。再有，上述内容是本公开的一个例子。本公开的效果不限定于上述内容，可以是其他不同的效果，也可以进一步包括其他效果。

附图说明

图1是表示本公开的一种实施方式的显示装置的结构的一个例图。

图2是表示图1的像素驱动电路的一个例图。

图3是表示图1的显示区域的平面结构的一个例图。

图4是表示沿着图3的IV-IV线的截面结构的一个例图。