[发明专利]基于颜色特征的图形对比方法、装置及计算机存储介质在审

专利信息
申请号: 202010013472.6 申请日: 2020-01-07
公开(公告)号: CN111243038A 公开(公告)日: 2020-06-05
发明(设计)人: 刘微;马栋;张斌 申请(专利权)人: 西安芯瞳半导体技术有限公司
主分类号: G06T7/90 分类号: G06T7/90;G06T7/33
代理公司: 西安维英格知识产权代理事务所(普通合伙) 61253 代理人: 归莹;李斌栋
地址: 710065 陕西省西安市高新区丈八*** 国省代码: 陕西;61
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摘要:
搜索关键词: 基于 颜色 特征 图形 对比 方法 装置 计算机 存储 介质
【权利要求书】:

1.一种基于颜色特征的图形对比方法,其特征在于,所述方法包括:

将标准图形按照设定的第一尺寸划分得到多个第一图形块,其中,各第一图形块大小一致且不重合,并且所有第一图形块能够完整覆盖所述标准图形;

从每个第一图形块中均选取一采样点;

根据待对比图形中处于各采样点对应位置的像素点以及设定的查找范围确定各采样点对应于所述待对比图形的查找范围;

基于颜色特征值及颜色特征值偏差阈值从各采样点对应的查找范围内查找是否存在符合对比要求的像素点:若不存在符合对比要求的像素点,所述待对比图形由于被确定为不符合对比要求而从待对比图形集合中被剔除;若存在符合对比要求的像素点,针对所述待对比图形进行后续的对比流程。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,若存在符合对比要求的像素点,所述方法还包括:确定根据各采样点位置以及对应符合对比要求的像素点位置确定一位置偏移。

3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述针对所述待对比图形进行后续的对比流程,包括:

将所述标准图形按照设定的第二尺寸进行划分,得到多个第二图形块,并基于所述位置偏移将所述待对比图形按照所述第二尺寸进行划分,得到多个第三图形块;其中,第二图形块与第三图形块尺寸相等且一一对应,第二图形块互不重合且所有第二图形块能够完整覆盖所述标准图,第三图形块互不重合且所有第三图形块能够完整覆盖待对比图形;

从对应的第二图形块以及第三图形块中的相应位置选取多个采样点;

将第二图形块内的采样点之间的颜色特征值差值与对应的第三图形块内的采样点之间的颜色特征值差值进行相减运算;

将相减所得第一差值与设定的第一阈值进行比较:

若所述第一差值大于设定的第一阈值,则所述待对比图形基于不符合对比要求而从所述待对比图形集合中被剔除;

若所述第一差值不大于所述第一阈值,则将第二图形块内的采样点之间的颜色特征值的和值与对应的第三图形块内的采样点之间的颜色特征值的和值进行相减运算

将相减所得到的第二差值与设定的第二阈值进行比较:

若所述第二差值大于设定的第二阈值,则所述待对比图形基于不符合对比要求而从所述待对比图形集合中被剔除;

若所述第二差值不大于设定的第二阈值,则将所述待对比图形进行逐像素对比。

4.根据权利要求3所示的方法,其特征在于,所述第一尺寸与所述第二尺寸相同或不同。

5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述针对所述待对比图形进行后续的对比流程,包括:将所述待对比图形进行逐像素对比。

6.根据权利要求1至5任一项所述的方法,其特征在于,所述颜色特征值包括:

RGB颜色值、灰度值、透明度、YUV颜色分量值以及YRC颜色分量值中的至少一项。

7.一种基于颜色特征的图形对比装置,其特征在于,所述装置包括:划分部分、选取部分、查找部分、判定部分、剔除部分、后续对比部分;其中;

所述划分部分,配置为将标准图形按照设定的第一尺寸划分得到多个第一图形块,其中,各第一图形块大小一致且不重合,并且所有第一图形块能够完整覆盖所述标准图形;

所述选取部分,配置为从每个第一图形块中均选取一采样点;

所述查找部分,配置为根据待对比图形中处于各采样点对应位置的像素点以及设定的查找范围确定各采样点对应于所述待对比图形的查找范围;

所述判定部分,配置为基于颜色特征值及颜色特征值偏差阈值从各采样点对应的查找范围内查找是否存在符合对比要求的像素点;以及,若不存在符合对比要求的像素点,触发所述剔除部分;以及,若存在符合对比要求的像素点,触发所述后续对比部分;

所述剔除部分,配置为所述待对比图形由于被确定为不符合对比要求而从待对比图形集合中被剔除;

所述后续对比部分,配置为针对所述待对比图形进行后续的对比流程。

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