[发明专利]像素单元电路检测装置及方法有效
申请号: | 202010008111.2 | 申请日: | 2020-01-02 |
公开(公告)号: | CN111147776B | 公开(公告)日: | 2022-02-11 |
发明(设计)人: | 雷述宇 | 申请(专利权)人: | 宁波飞芯电子科技有限公司 |
主分类号: | H04N5/374 | 分类号: | H04N5/374;H04N17/00 |
代理公司: | 北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) 11463 | 代理人: | 曹瑞敏 |
地址: | 315000 浙江省宁*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 像素 单元 电路 检测 装置 方法 | ||
1.一种像素单元电路检测装置,其特征在于,包括:
可变电压输入端、光电二极管、输入端开关、第一调制开关、第二调制开关;
所述输入端开关的一端与所述可变电压输入端连接、另一端分别连接所述第一调制开关的一端、所述第二调制开关的一端以及所述光电二极管的输出端,所述光电二极管的输入端接地,其中,时钟控制电路控制所述第一调制开关、所述第二调制开关中至少一个与所述输入端开关的信号同步;
所述第一调制开关的另一端通过第一复位电路连接至第一输出端、所述第二调制开关的另一端通过第二复位电路连接至第二输出端。
2.如权利要求1所述的像素单元电路检测装置,其特征在于,所述光电二极管在复位后电子量为0,所述输入端开关、所述第一调制开关、所述第二调制开关的栅极均偏置低电平关闭状态,所述可变电压输入端为低电平状态;
所述输入端开关和所述第一调制开关同时开启后,电子由所述可变电压输入端输入所述光电二极管,且所述第一调制开关的栅极信号为高电平、所述第二调制开关的栅极信号为低电平时,所述第一调制开关收集电子。
3.如权利要求1所述的像素单元电路检测装置,其特征在于,所述第二调制开关的栅极信号为高电平、所述第一调制开关的栅极信号为低电平时,所述第二调制开关收集电子。
4.如权利要求2所述的像素单元电路检测装置,其特征在于,所述第一复位电路包括:第一电容、第一复位开关、第一源极跟随MOS管、第一电源接口;其中,所述第一调制开关的另一端、所述第一电容的一端与所述第一复位开关的一端连接;所述第一复位开关的另一端、所述第一源极跟随MOS管非栅极的一端与所述第一电源接口连接,所述第一源极跟随MOS管的栅极端分别与所述第一复位开关的一端、所述第一调制开关的另一端、所述第一电容的一端连接,所述第一源极跟随MOS管非栅极的另一端用于连接第一输出端;
所述第二复位电路包括:第二电容、第二复位开关、第二源极跟随MOS管、第二电源接口;其中,所述第二调制开关的另一端、所述第二电容的一端与所述第二复位开关的一端连接;所述第二复位开关的另一端、所述第二源极跟随MOS管非栅极的一端与所述第二电源接口连接,所述第二源极跟随MOS管的栅极端分别与所述第二复位开关的一端、所述第二调制开关的另一端、所述第二电容的一端连接,所述第二源极跟随MOS管非栅极的另一端用于连接第二输出端。
5.一种像素单元电路检测方法,其特征在于,应用于权利要求1-4任一项所述的像素单元电路检测装置,所述方法包括:
接收时钟控制电路对所述第一调制开关、所述第二调制开关中至少一个与所述输入端开关的开关控制信号;
根据所述开关控制信号分别控制所述输入端开关、所述第一调制开关、所述第二调制开关的状态,使电子由所述可变电压输入端输入所述光电二极管;
基于所述光电二极管收集的电子,分别获取所述第一输出端和所述第二输出端的输出数据。
6.如权利要求5所述的方法,其特征在于,所述光电二极管在复位后电子量为0,所述输入端开关、所述第一调制开关、所述第二调制开关的栅极均偏置低电平关闭状态,所述可变电压输入端为低电平状态;
所述根据所述开关控制信号分别控制所述输入端开关、所述第一调制开关、所述第二调制开关的状态,使电子由所述可变电压输入端输入所述光电二极管,包括:
在所述光电二极管在复位后,根据所述开关控制信号控制所述输入端开关和所述第一调制开关同时开启,电子由所述可变电压输入端输入所述光电二极管,其中,所述第一调制开关的栅极信号为高电平、所述第二调制开关的栅极信号为低电平时,所述第一调制开关收集电子。
7.如权利要求5所述的方法,其特征在于,所述第二调制开关的栅极信号为高电平、所述第一调制开关的栅极信号为低电平时,所述第二调制开关收集电子。
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