[发明专利]电阻检测装置及方法

权利要求书

1.一种电阻检测装置，其特征在于，包括：

电流电压发生器，提供参考电压和参考电流，所述电流电压发生器的等效电阻值为所述参考电压与所述参考电流的比值；

电阻检测器，基于开关电容模块将参考电压转换为对比电流，并基于待测电阻将所述参考电压转换为测试电流，所述开关电容模块的等效电阻值受控于调节时钟信号的频率；

振荡器，根据所述参考电流生成参考时钟信号，根据所述对比电流生成对比时钟信号，根据所述测试电流生成测试时钟信号；以及

处理器，根据所述对比时钟信号的频率和所述测试时钟信号的频率之间的比例获得检测系数，所述检测系数指示所述待测电阻的电阻值与所述开关电容模块的等效电阻值的比值，

其中，所述处理器根据所述参考时钟信号的频率与所述对比时钟信号之间的比例获得调节系数，所述调节系数指示所述开关电容模块的电阻值与所述电流电压发生器的等效电阻值的比值，所述处理器根据所述调节系数提供所述调节时钟信号。

2.根据权利要求1所述的电阻检测装置，其特征在于，所述开关电容模块包括：

时钟发生模块，根据所述调节时钟信号提供多个相位不同的子调节时钟信号；

多个开关电容结构，分别接收所述子调节时钟信号，

各个所述开关电容结构包括：

串联连接的第一晶体管和第二晶体管，所述第一晶体管的第一通路端接收所述参考电压，所述第二晶体管的第二通路端连接至参考地，所述第一晶体管的第二通路端和所述第二晶体管的第一通路端相连以提供串联节点，所述第一晶体管的控制端和所述第二晶体管的控制端相连并接收所述调节时钟信号；以及

第一电容，所述第一电容的一端连接至所述串联节点，另一端连接至参考地，

其中，所述开关电容模块的等效电阻值与所述调节时钟信号的频率和所述第一电容的电容值的乘积成反比。

3.根据权利要求1所述的电阻检测装置，其特征在于，还包括：校准器，包括多个校准电阻和分别连接至所述校准电阻的多个校准开关，所述校准器并联地耦接至所述待测电阻，并根据所述检测系数控制各个所述校准开关的导通与关断，以对所述待测电阻的电阻值进行校准。

4.根据权利要求1所述的电阻检测装置，其特征在于，其中，所述电阻检测器还包括第一开关和第二开关，

当所述第一开关导通时，所述开关电容模块经由所述第一开关接收所述参考电压以生成所述对比电流，

当所述第二开关导通时，所述待测电阻经由所述第二开关接收所述参考电压以生成所述测试电流。

5.根据权利要求1所述的电阻检测装置，其特征在于，所述电阻检测器还包括：运算放大器，所述运算放大器的反相输入端接收所述参考电压，正相输入端连接至所述开关电容模块和所述待测电阻，输出端连接至所述正相输入端。

6.根据权利要求1所述的电阻检测装置，其特征在于，所述电阻检测器还包括：电流镜像电路，所述电流镜像电路的输入端分别连接至所述开关电容模块和所述待测电阻，输出端分别提供所述对比电流和所述测试电流。

7.一种电阻检测方法，其特征在于，包括：

基于电流电压发生器提供参考电压和参考电流；

基于开关电容模块将参考电压转换为对比电流；

基于待测电阻将所述参考电压转换为测试电流；

根据所述对比电流生成对比时钟信号，根据所述测试电流生成测试时钟信号；以及

根据所述对比时钟信号的频率和所述测试时钟信号的频率之间的比例获得检测系数，所述检测系数指示所述待测电阻的电阻值与所述开关电容模块的等效电阻值的比值，

其中，所述开关电容模块的等效电阻值受控于调节时钟信号的频率，

所述电阻检测方法还包括：

根据所述参考电流生成参考时钟信号；

根据所述参考时钟信号的频率与所述对比时钟信号之间的比例获得调节系数，所述调节系数指示所述开关电容模块的电阻值与所述电流电压发生器的等效电阻值的比值；以及

根据所述调节系数提供所述调节时钟信号。