[其他]透射成像检测装置及应用其的计算机层析成像系统有效

专利信息
申请号: 201990000337.9 申请日: 2019-09-19
公开(公告)号: CN213121682U 公开(公告)日: 2021-05-04
发明(设计)人: 方正 申请(专利权)人: 方正
主分类号: G01N23/046 分类号: G01N23/046
代理公司: 厦门原创专利事务所(普通合伙) 35101 代理人: 徐东峰
地址: 361000 福建省厦门市翔安*** 国省代码: 福建;35
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摘要:
搜索关键词: 透射 成像 检测 装置 应用 计算机 层析 系统
【权利要求书】:

1.一种透射成像检测装置,其用于对传送带上平移的被测对象进行投影图采集,其特征在于,包括用于对进入检测区域的被测对象进行投影图数据采集的X射线投影图成像装置和用于判断所述被测对象进入检测区域的激光遮挡传感装置;所述X射线投影图成像装置包括X射线光源和X射线线阵列探测器,所述激光遮挡传感装置包括激光发射器和激光接受器,所述X射线光源和线阵列探测器位于所述传送带厚度的两侧,所述激光发射器和激光接受器位于所述传送带宽度的两侧;所述线阵列探测器可以为直线探测器和弧形探测器。

2.根据权利要求1所述的透射成像检测装置,其特征在于,所述X射线投影图成像装置为K组,包括K个所述X射线光源和X射线线阵列探测器,所述激光遮挡传感装置为K组,包括K个所述激光发射器和激光接受器,K组X射线投影图成像装置和激光遮挡传感装置沿被测对象的平移运动方向依次排开。

3.根据权利要求2所述的透射成像检测装置,其特征在于,每组X射线光源的中心和线阵列探测器的有效感光线段所构成的平面为投影图成像光路平面,K个投影图成像光路平面不共面且相互平行;每组X射线光源和线阵列探测器中心的连线为中轴线,K条中轴线不共面且互成一定角度。

4.根据权利要求3所述的透射成像检测装置,其特征在于,所述投影图成像光路平面和中轴线,均垂直于被测对象的平移运动方向。

5.根据权利要求3所述的透射成像检测装置,其特征在于,所述K个中轴线所覆盖的圆周上的扫描角度区间,包括全扫描角度区间或短扫描角度区间:其中全扫描角度区间为2π弧度;短扫描为π+2γ弧度。

6.一种计算机层析成像系统,用于对透射成像检测装置采集的投影图进行成像,其特征在于,所述计算机层析成像系统包括权利要求1-5任意一项所述的透射成像检测装置,及与所述透射成像检测装置连接的集群工作站和图形工作站。

7.根据权利要求6所述的计算机层析成像系统,其特征在于,所述集群工作站通过控制总线收集所述激光遮挡传感装置的检测信号和所述X射线线阵列探测器采集的数据;所述图形工作站通过传输总线收集所述集群工作站采集的数据并进行投影图重建。

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