[发明专利]用于确定介电常数的测量装置

权利要求书

1.一种用于测量填充物质(3)的介电值(DK)的测量装置，所述测量装置包括：

-信号产生单元(11)，所述信号产生单元被设计成驱动：

-发射单元(12)，以使得通过电高频信号(s_HF)，所述发射单元(12)沿所述填充物质(3)的方向发射雷达信号(S_HF)，

-接收单元(13)，所述接收单元能够布置在容器(2)中，使得所述接收单元接收通过所述填充物质(3)之后的雷达信号(S_HF)作为接收信号(e_HF)，以及

-评估单元(14)，所述评估单元被设计为至少基于所述接收信号(e_HF)，

o确定所述接收信号(e_HF)的幅值、所述接收信号(e_HF)相对于所述高频信号(s_HF)的相移和/或所述雷达信号(S_HF)在所述发射单元(12)和所述接收单元(13)之间的信号传播时间，以及

o基于所确定的信号传播时间、所述相移和/或所确定的幅值来确定所述介电值(DK)，

其特征在于，

所述发射单元(12)和/或所述接收单元(13)包括至少两个辐射元件(100)，所述至少两个辐射元件相对于彼此以对应数量的行(201、202、203)布置，

其中，在每种情况下，相对于另一单元(12、13)，即所述发射单元或所述接收单元，将发射所述雷达信号(S_HF)的发射层(112)放置在所述辐射器(100)之前。

2.根据权利要求1所述的测量装置，其中，至少一个延迟元件(15)被放置在每行(201、202、203)的至少一个辐射元件(100)之前或之后，以使得

在每种情况下，所述高频信号(s_HF)按照行(201、202、203)以所限定的增大的相位延迟来发射，或者

在每种情况下，由所述至少一个辐射元件(100)接收的接收信号(e_HF)随着增大的行编号(201、202、203)以所限定的增大或减小的相位被延迟。

3.根据权利要求1所述的测量装置，其中，所述发射单元(12)和所述接收单元(13)相对于彼此倾斜，以使得当所述两个单元(12、13)包括其中在每种情况下布置有至少一个辐射元件(100)的对应数量的行时，每行(201、202、203)的至少一个辐射元件(100)在每种情况下具有随着行编号(201、202、203)增大而与另一单元(12、13)的对应行(201、202、203)的至少一个辐射元件(100)增大或减小的间隔。

4.根据权利要求1所述的测量装置，其中，所述发射层(112)具有厚度(d)，所述厚度在每种情况下以所限定的方式、按照行(201、202、203)增大或减小。

5.根据前述权利要求中的至少一项所述的测量装置，其中，每行(201、202、203)布置至少两个、尤其是超过5个辐射元件(100)。

6.根据权利要求5所述的测量装置，其中，导电迹线结构(300)在所述发射单元(12)或所述接收单元(13)上设置成对称地接触一行(201、202、203)的辐射元件(100)，以使得所述行(201、202、203)的每个辐射元件(100)的高频信号(s_HF)或接收信号(e_HF)具有相等相位。

7.根据前述权利要求中的一项所述的测量装置，其中，所述发射单元(12)和/或所述接收单元(13)包括超过两个、尤其是超过5个行(201、202、203)，所述行在每种情况下具有至少一个辐射元件(100)。

8.根据前述权利要求中的一项所述的测量装置，其中，所述发射层(112)由下述材料制造，所述材料具有：

2至40之间的相对介电数，和/或

0.5至10之间的磁导率。