[发明专利]扫描光检测和测距中的DESCAN补偿在审

专利信息
申请号: 201980083970.3 申请日: 2019-09-20
公开(公告)号: CN113366335A 公开(公告)日: 2021-09-07
发明(设计)人: M·雷兹克;尼尔·N·奥扎;K·加涅;O·P·科考格鲁 申请(专利权)人: 艾娃有限公司
主分类号: G01S7/481 分类号: G01S7/481
代理公司: 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 代理人: 刘新宇
地址: 美国加利*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 扫描 检测 测距 中的 descan 补偿
【权利要求书】:

1.一种光检测和测距设备即LIDAR设备,其包括:

激光源,其被配置为在第一方向上发射激光束;

透镜光学器件,其被配置为使所述激光束的第一部分在所述第一方向上朝向目标穿过,将所述激光束的第二部分作为本地振荡器信号返回到返回路径中,并且将目标信号返回到所述返回路径中;

偏振波片,其被配置为偏振在所述第一方向上前进的激光束,并且偏振经由所述透镜光学器件返回的所述目标信号;

偏振分束器,其被配置为使第一偏振状态的光在所述第一方向上穿过所述分束器,并且在与所述第一方向不同的第二方向上反射第二偏振状态的光,其中,所述偏振分束器还被配置为使得所述本地振荡器信号和所述目标信号之间的干涉能够生成组合信号;以及

光学检测器,其被配置为接收来自所述第二方向的所述组合信号。

2.根据权利要求1所述的光检测和测距设备即LIDAR设备,还包括第二激光源和第二光学检测器。

3.根据权利要求1所述的光检测和测距设备即LIDAR设备,还包括用于将所述信号引导到所述光学检测器的波分复用器和基于波长的第二光学检测器,其中所述激光源提供多波长激光束。

4.根据权利要求1所述的光检测和测距设备即LIDAR设备,其中,所述偏振波片包括四分之一波片和半波片其中之一。

5.根据权利要求1所述的光检测和测距设备即LIDAR设备,还包括用于准直通过所述偏振分束器的激光束的透镜器件。

6.根据权利要求1所述的光检测和测距设备即LIDAR设备,其中,所述激光源和所述光学检测器位于具有一个或多个折叠镜的一个或多个印刷电路板上,以将所返回的光引导到所述光学检测器。

7.根据权利要求6所述的光检测和测距设备即LIDAR设备,其中,所述折叠镜还包括波分复用器涂层以将第一波长的光反射到所述光学检测器,并且允许第二波长的光穿过该涂层到达第二折叠镜并反射到第二光学检测器。

8.根据权利要求1所述的光检测和测距设备即LIDAR设备,还包括第二激光源,其中,所述激光源和所述第二激光源各自提供多波长激光束。

9.根据权利要求1所述的光检测和测距设备即LIDAR设备,其中,所述透镜光学器件还包括反射器或涂层以生成作为所述本地振荡器信号的返回光。

10.一种光检测和测距系统即LIDAR系统,其包括:

快速扫描镜,用于按光栅图案引导激光束来扫描环境;

光学电路,用于生成和接收所述激光束,所述光学电路包括:

激光源,其被配置为在第一方向上发射激光束;

透镜光学器件,其被配置为使所述激光束的第一部分在所述第一方向上朝向目标穿过,将所述激光束的第二部分作为本地振荡器信号返回到返回路径中,并且将目标信号返回到所述返回路径中;

四分之一波片,其被配置为变换在所述第一方向上前进的激光束的偏振状态和经由所述透镜光学器件返回的所述目标信号的偏振状态,使得这些偏振正交;

偏振分束器,其被配置为使偏振光在所述第一方向上穿过所述分束器,并且在与所述第一方向不同的第二方向上反射正交偏振光,其中,所述偏振分束器还被配置为使得所述本地振荡器信号和所述目标信号之间的干涉能够生成组合信号;以及

光学检测器,其被配置为接收所述组合信号。

11.根据权利要求10所述的光检测和测距系统即LIDAR系统,还包括第二激光源和第二光学检测器。

12.根据权利要求10所述的光检测和测距系统即LIDAR系统,还包括用于将所述信号引导到所述光学检测器的波分复用器和基于波长的第二光学检测器,并且其中所述激光源提供多波长激光束。

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