[发明专利]插座

说明书

插座包括：插座主体，容纳被检查部件，并且具有被卡止部；外盖，设置在所述插座主体的上侧；以及卡止部件，被所述外盖支撑，并且具有沿着上下方向延伸的轴部及沿着与上下方向交叉的方向延伸的卡止部，通过使所述卡止部件围绕自身的轴线旋转而使所述卡止部与所述被卡止部卡合，从而将所述外盖固定于所述插座主体。

技术领域

本发明涉及在检查被检查部件的电气特性时使用的插座。

背景技术

以往，在对IC(Integrated Circuit，集成电路)封装等被检查部件进行检查(例如，超负荷(burn-in)测试)时，使用插座将被检查部件与布线基板电连接。

专利文献1中记载有如下插座，其包括载放IC封装的插座主体、与插座主体分体地设置的外盖、以及设置在外盖侧且通过与插座主体卡合而将外盖固定于插座主体的闩扣。

现有技术文献

专利文献

专利文献1：日本特开2006-252946号公报

发明内容

发明要解决的问题

但是，专利文献1中记载的插座使用了在一个面设置有卡合部的闩扣，因此，存在如下的问题。

(1)因为闩扣的卡合部仅设置在闩扣的一个面上，所以在检查时(在通过外盖向插座主体按压IC封装的状态下)，会对闩扣的卡合部及插座主体的被卡合部施加较大的反作用力。因此，为了确保部件强度，需要将闩扣设为较大且较厚，在插座主体中也需要较大的空间来设置与闩扣的卡合部对应的被卡合部。

(2)因为与闩扣的卡合部卡合的被卡合部设置于插座主体的外周部，所以在插座主体的外周部的更外侧，需要供闩扣进行动作的空间。

本发明的目的在于提供能够固定外盖与插座主体而不导致大型化的插座。

解决问题的方案

本发明的一个方式的插座包括：插座主体，其容纳被检查部件，并且具有被卡止部；外盖，其设置在所述插座主体的上侧；以及卡止部件，其被所述外盖支撑，并且具有沿着上下方向延伸的轴部及沿着与上下方向交叉的方向延伸的卡止部，通过使所述卡止部件围绕自身的轴线旋转而使所述卡止部与所述被卡止部卡合，从而将所述外盖固定于所述插座主体。

发明效果

根据本发明，能够固定外盖与插座主体而不导致大型化。

附图说明

图1是表示实施方式的插座的立体图。

图2是表示实施方式的插座的俯视图。

图3A是图2的3A-3A剖视图。

图3B是图2的3B-3B剖视图。

图3C是图2的3C-3C剖视图。

图4是表示卡止部件的立体图。

图5是表示外盖固定于插座主体的状态的剖视图。

图6是表示检查状态下的插座的剖视图。

具体实施方式

以下，参照附图来详细地说明本发明的实施方式。此外，以下说明的实施方式为一例，本发明并不受该实施方式限定。以下说明的实施方式的结构要素可适当地组合。另外，也有不使用一部分的结构要素的情况。

在各图中，为了便于说明，描绘了由X轴、Y轴及Z轴构成的三维正交坐标系。将X轴的正方向定义为+X方向，将Y轴的正方向定义为+Y方向，将Z轴的正方向定义为+Z方向(上方方向)。