[发明专利]继电器状态预测装置、继电器状态预测系统、继电器状态预测方法及程序

说明书

本发明的继电器状态预测装置(10)具备：电压值取得部(22)，其时刻测定从分流电阻的两端检测出的检测电压；电压值差计算部(28a)，其计算在1次侧开关断开后由于衔铁开始位移而检测电压成为极小时的第一电压值与2次侧触点断开时的第二电压值之间的电压值差；斜率计算部(28b)，其计算随着根据1次侧开关反复接通断开而2次侧触点反复开闭，从而电压值差减小的斜率；以及状态预测部(28c)，其基于当前的所述电压值差和减小的斜率，预测从当前到电压值差达到预先设定的阈值为止的可开闭次数。

技术领域

本发明涉及一种继电器状态预测装置、继电器状态预测系统、继电器状态预测方法及程序，例如，涉及一种继电器状态预测装置、继电器状态预测系统、继电器状态预测方法及程序，它们能够预测通过使向1次侧的线圈的通电接通断开而使2次侧的触点开闭的继电器到劣化为止的可开闭次数。

背景技术

以往，作为这种继电器状态预测装置，例如已知如日本特开2013-89603号公报所公开的那样，在继电器断开时，测定在继电器所具备的1次侧的操作线圈(致动线圈)中流动的电流的极大值，在极大值低于预先设定的阈值时，预测为劣化。

现有技术文献

专利文献

专利文献1：日本特开2013-89603号公报

发明内容

发明要解决的问题

然而，在专利文献1(日本特开2013-89603号公报)中记载的技术中，未公开对继电器到劣化为止的可开闭次数、即剩余寿命进行预测。

因此，本发明的课题在于提供一种能够预测继电器的剩余寿命的继电器状态预测装置、继电器状态预测系统、继电器状态预测方法以及程序。

用于解决问题的方案

因此，本公开的继电器状态预测装置预测继电器到劣化为止的可开闭次数，该继电器状态预测装置的特征在于，所述继电器包括与1次侧电源串联连接的1次侧开关、操作线圈和分流电阻，所述继电器包括二极管，该二极管与所述操作线圈和所述分流电阻的串联连接并联且按如下朝向连接：该朝向使得在所述1次侧开关断开时由所述操作线圈的反电动势引起的电流向所述分流电阻流动，并且，所述继电器包括衔铁(armature)，该衔铁根据所述1次侧开关的接通断开而使至少一对2次侧触点进行开闭，该衔铁在所述1次侧开关接通时，利用所述操作线圈产生的电磁力而相对于所述操作线圈进行相对位移，一边挠曲某压入量，一边使一方的2次侧触点与另一方的2次侧触点接触，所述继电器状态预测装置具备：电压值取得部，其时刻测定从所述分流电阻的两端检测出的检测电压；电压值差计算部，其计算在所述1次侧开关断开后由于所述衔铁开始位移而所述检测电压成为极小时的第一电压值与所述2次侧触点断开时的第二电压值之间的电压值差；斜率计算部，其计算随着根据所述1次侧开关反复接通断开而所述2次侧触点反复开闭，从而所述电压值差减小的斜率；以及状态预测部，其基于当前的所述电压值差和所述减小的斜率，预测从当前到所述电压值差达到预先设定的阈值为止的可开闭次数。

在该公开的继电器状态预测装置中，电压值取得部时刻测定从分流电阻的两端检测出的检测电压。电压值差计算部计算在1次侧开关断开后由于所述衔铁开始位移而检测电压成为极小时的第一电压值与2次侧触点断开时的第二电压值之间的电压值差。斜率计算部计算随着根据所述1次侧开关反复接通断开而所述2次侧触点反复开闭，从而所述电压值差减小的斜率。状态预测部基于当前的所述电压值差和所述减小的斜率，预测从当前到所述电压值差达到预先设定的阈值为止的可开闭次数。在此，根据经验可知，随着开闭次数增加(即，劣化)，所述电压值差近似于一次函数地减小。因此，能够预测从当前到所述电压值差达到预先设定的阈值为止的可开闭次数、即继电器的剩余寿命。

在一个实施方式的继电器状态预测装置中，特征在于，所述斜率计算部计算所述电压值差除以所述分流电阻的值而得到的电流值减小的斜率。