[发明专利]用于检测打开或尝试打开封闭容器的设备和方法在审
申请号: | 201980074299.6 | 申请日: | 2019-10-23 |
公开(公告)号: | CN112997197A | 公开(公告)日: | 2021-06-18 |
发明(设计)人: | J·曼吉欧尼;A·图多塞;P·Y·博德里翁;J·潘特尔 | 申请(专利权)人: | 意法半导体(鲁塞)公司 |
主分类号: | G06K19/077 | 分类号: | G06K19/077;H04B5/00 |
代理公司: | 北京市金杜律师事务所 11256 | 代理人: | 闫昊 |
地址: | 法国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 检测 打开 尝试 封闭 容器 设备 方法 | ||
1.一种系统,包括封闭容器(RCP)和检测设备(DSD),所述检测设备(DSD)包括:非接触式无源应答器(TG),所述非接触式无源应答器被配置以便使用载波信号经由天线(ANT)与读取器(RD)通信,所述应答器(TG)包括集成电路(IC),所述集成电路具有连接到所述天线的两个天线端子(AC0、AC1)、以及被第一电导线(FL1;FL10)链接的第一附加端子(TDO)和第二附加端子(TDI),所述第一电导线具有可切断部分(FL10;FL100),并且被设计以便在打开或尝试打开所述容器的事件中,在所述第一电导线的可切断部分处被切断;以及短路部件(MP、PLT、FL2;MP1、PLT1、FL20),被配置以便在切断所述可切断部分(FL10;FL100)并且重建在所述第一附加端子(TDO)和所述第二附加端子(TDI)之间的电连接的事件中,将所述第一附加端子(TDO)与所述集成电路的另一端子(AC1、TDIS)短路。
2.根据权利要求1所述的系统,具有第一配置和第二配置,在所述第一配置中,所述第一电导线(FL1;FL10)未被切断、并且与所述短路部件电绝缘,在所述第二配置中,所述第一电导线(FL10)在其可切断部分处被切断以便形成两个导线部分(FL100、FL101;FL1000、FL1010),所述两个导线部分(FL100、FL101;FL1000、FL1010)的端部通过导电接合部件(PLT;PLT1)被重新电接合在一起,所述导电接合部件也与所述短路部件的部分(MP;MP1)接触。
3.根据权利要求1或2所述的系统,其中所述短路部件包括导电元件(MP;MP1),所述导电元件(MP;MP1)被布置靠近所述第一电导线的所述可切断部分、并且通过第二电导线(FL2;FL20)被链接到所述另外的端子,在不存在切断该第一电导线(FL1;FL10)的情况中,所述导电元件(MP;MP1)与所述第一电导线(FL1;FL10)电绝缘。
4.根据权利要求2和3所述的系统,其中所述导电接合部件(PLT;PLT1)在所述第二配置中与所述导电元件(MP;MP1)和所述第一电导线(FL1;FL10)接触。
5.根据权利要求3或4所述的系统,其中所述导电元件(MP;MP1)包括平面的导电元件(MP;MP1)。
6.根据权利要求5所述的系统,其中在不存在切断所述第一电导线(FL1;FL10)的情况中,所述第一导线(FL1;FL10)的所述可切断部分(FL10;FL100)被所述平面元件(MP;MP1)支撑、并且通过绝缘层(INS;INS1)与所述平面元件(MP;MP1)电绝缘。
7.根据权利要求3或4所述的系统,其中所述导电元件(MP;MP1)包括靠近并且沿着所述第一电导线(FL1;FL10)的所述可切断部分延伸的电导线(MP;MP1),所述电导线(MP;MP1)和所述第一电导线(FL1;FL10)在不存在切断所述第一电导线(FL1;FL10)的情况中被分开。
8.根据权利要求3至7中任一项所述的系统,其中所述第一电导线(FL1;FL10)在一个区域(ZN;ZN1)中具有螺旋形状。
9.根据权利要求7和8所述的系统,其中所述电导线(MP;MP1)在所述区域(ZN;ZN1)中具有螺旋形状,该螺旋形状交织在所述第一电导线(FL1;FL10)的螺旋形状中。
10.根据前述权利要求中任一项所述的系统,其中所述另外的端子为第一天线端子(AC1)。
11.根据权利要求1至9中任一项所述的系统,其中所述集成电路包括第三附加端子(TDIS),所述另外的端子为所述第三附加端子(TDIS)。
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