[发明专利]用于成像质谱分析法的基于融合的参考颗粒的归一化

权利要求书

1.一种成像质谱校准物，包含样品载体，至少一种参考颗粒融合至所述样品载体，并且其中，所述至少一种参考颗粒包含至少一种参考原子。

2.根据权利要求1所述的成像质谱校准物，其中，所述样品载体包含至少2个融合的参考颗粒，如至少3个、至少5个、至少10个、至少50个、至少100个、至少500个、至少1000个、至少2000个、至少5,000个或至少10,000个融合的参考颗粒。

3.根据任一前述权利要求所述的成像质谱校准物，包含多于一组融合的参考颗粒，例如，其中，所述样品载体包含至少一种融合的参考颗粒的至少两个、至少三个、至少四个、至少五个、至少六个、至少七个、至少八个或至少十个组。

4.根据权利要求3所述的成像质谱校准物，其中，至少一种融合的参考颗粒的每个组包含具有不同原子量的不同参考原子。

5.根据权利要求3所述的成像质谱校准物，其中，至少一种融合的参考颗粒的每个组包含不同量的相同参考原子。

6.根据权利要求1所述的成像质谱校准物，其中，至少一种融合的参考颗粒包含具有不同原子量的多于一种参考原子，例如，其中，所述至少一种参考颗粒包含具有不同原子量的至少两种、至少三种、至少四种、至少五种、至少六种、至少七种、至少八种、至少九种或至少十种不同的参考原子。

7.根据权利要求6所述的成像质谱校准物，其中，具有不同原子量的每种参考原子以不同的量存在。

8.根据权利要求6或7所述的成像质谱校准物，包含至少一种融合的参考颗粒的多于一个组，例如，至少一种融合的参考颗粒的至少两个、至少三个、至少四个、至少五个、至少六个、至少七个、至少八个或至少十个组；其中，至少一种融合的参考颗粒的每个组包含不同量的具有不同原子量的多于一种参考原子中的每一种。

9.根据任一前述权利要求所述的成像质谱校准物，其中，融合的参考颗粒包含n×10^-5-n×10⁵个每种类型的参考原子，如n×10^-4-n×10⁴个每种类型的参考原子，n×10^-3-n×10³个每种类型的参考原子，n×10^-2-n×10²个每种类型的参考原子或n×10^-1-n×10¹个每种类型的参考原子；其中，n＝10,000,000-30,000,000。

10.根据任一前述权利要求所述的成像质谱校准物，其中，所述至少一种参考颗粒总计包含1,000-300,000,000、2,000-200,000,000、5,000-175,000,000、50,000-150,000,000、100,000-125,000,000、200,000-110,000,000、1,000,000-100,000,000、10,000,000-95,000,000、30,000,000-90,000,000、40,000,000-80,000,000或50,000,000-70,000,000个参考原子。

11.根据任一前述权利要求所述的成像质谱校准物，其中，至少一种融合的参考颗粒包含1,000-100,000,000、5,000-50,000,000、50,000-40,000,000、100,000-30,000,000、200,000-20,000,000、1,000,000-20,000,000、10,000,000-20,000,000或12,000,000-18,000,000个每种类型的参考原子。