[发明专利]多个马达产品、马达、马达组、驱动装置、及磁铁组在审

专利信息
申请号: 201980064493.6 申请日: 2019-10-02
公开(公告)号: CN112789788A 公开(公告)日: 2021-05-11
发明(设计)人: 藤川宪一;田中伸幸;尾关出光;齐藤正一朗;久米克也 申请(专利权)人: 日东电工株式会社
主分类号: H02K1/27 分类号: H02K1/27;H01F7/02;H01F41/02
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 陈蕴辉
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 马达 产品 驱动 装置 磁铁
【权利要求书】:

1.一种市售的相同的多个马达产品,

该马达产品存在30台以上,

各个马达产品包括1个或2个以上的磁铁,

各个磁铁具有7%以下的空隙率,

各个磁铁为具有非平行取向的区域的烧结磁铁,并且具有表面磁通密度的峰值最大的第一主面,

当在各个磁铁的所述第一主面上对测定线上的表面磁通密度进行测定时,由以下公式所表示的磁铁间偏差不均P为4%以下,

磁铁间偏差不均P[%]=(σtotal[mT]/Atotal[mT])×100

其中,当将观察到所述非平行取向的区域的剖面称为特定剖面时,所述测定线表示在所述第一主面的大致中央处沿着与所述特定剖面平行的方向的与整个所述第一主面对应的测定轨迹,并且所述测定线被设定在距所述第一主面1mm的上方的空间位置处,

Atotal表示合计平均表面磁通密度,当求出各个烧结磁铁中的所述测定线上的在相同测定位置处的表面磁通密度的绝对值的平均值并以其作为Bave[mT]时,通过计算所述测定线上的所有测定位置处的平均值Bave[mT]的总和而求出Atotal

σtotal表示合计标准偏差,当以各个烧结磁铁中的所述测定线上的用于计算所述合计平均表面磁通密度Atotal的各个测定位置处的表面磁通密度的标准偏差作为σ[mT]时,通过计算所述测定线上的所有测定位置处的标准偏差σ[mT]的总和而求出σtotal

2.根据权利要求1所述的多个马达产品,其中,各个马达产品包括1个磁铁。

3.根据权利要求1所述的多个马达产品,其中,各个马达产品包括多个磁铁。

4.一种马达,具有多个磁铁,

各个磁铁为具有非平行取向的区域的烧结磁铁,并且具有表面磁通密度的峰值最大的第一主面,

当在各个磁铁的所述第一主面上对测定线上的表面磁通密度进行测定时,由以下公式所表示的磁铁间偏差不均P为4%以下,

磁铁间偏差不均P[%]=(σtotal[mT]/Atotal[mT])×100

其中,当将观察到所述非平行取向的区域的剖面称为特定剖面时,所述测定线表示在所述第一主面的大致中央处沿着与所述特定剖面平行的方向的与整个所述第一主面对应的测定轨迹,并且所述测定线被设定在距所述第一主面1mm的上方的空间位置处,

Atotal表示合计平均表面磁通密度,当求出各个烧结磁铁中的所述测定线上的在相同测定位置处的表面磁通密度的绝对值的平均值并以其作为Bave[mT]时,通过计算所述测定线上的所有测定位置处的平均值Bave[mT]的总和而求出Atotal

σtotal表示合计标准偏差,当以各个烧结磁铁中的所述测定线上的用于计算所述合计平均表面磁通密度Atotal的各个测定位置处的表面磁通密度的标准偏差作为σ[mT]时,通过计算所述测定线上的所有测定位置处的标准偏差σ[mT]的总和而求出σtotal

5.根据权利要求4所述的马达,其中,各个磁铁具有7%以下的空隙率。

6.根据权利要求4或5所述的马达,其中,所述非平行取向为极性各向异性取向或径向取向。

7.根据权利要求4至6中任一项所述的马达,其中,所述磁铁为大致长方体形状或大致环状。

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