[发明专利]用于确定复合片材重量的设备

权利要求书

1.一种用于测量复合片材（180）的重量的非核测量设备（100），所述复合片材包括其上具有第二材料的片材材料（180a），所述第二材料作为涂层（180b）或作为其中的嵌入粒子（180c），所述测量设备包括：

x射线传感器（110），所述x射线传感器包括x射线源（110a）和x射线检测器（110b），用于提供来自照射所述复合片材的X射线的x射线信号；

红外IR传感器（120），所述红外IR传感器包括至少一个IR源（120a）、至少一个IR滤波器（114）和至少一个IR检测器（120b），用于提供来自照射所述复合片材的IR的IR信号，以及

计算装置（150），所述计算装置被联接以接收所述x射线信号和所述IR信号，所述计算装置包括处理器（151），所述处理器具有相关联存储器（152）以用于实施算法，

其中所述算法使用所述x射线信号和所述IR信号在无需核量计的情况下计算多个重量，所述多个重量选自所述片材材料的重量、所述第二材料的重量和所述复合片材的总重量。

2.根据权利要求1所述的非核测量设备，还包括扫描器头（160），其中所述x射线传感器和所述红外 IR传感器两者均能够通过所述扫描器 头移动，以用于扫描所述复合片材以生成二维（2D）测量分布。

3.根据权利要求1所述的非核测量设备，其中所述红外 IR传感器包括透射传感器。

4.根据权利要求1所述的非核测量设备，其中所述算法利用将所述非核测量设备的输出与所述片材材料的所述重量、所述第二材料的所述重量和所述复合片材的总重量相关的校准表，并且利用所述校准表来确定所述多个重量。

5.根据权利要求1所述的非核测量设备，其中所述片材材料具有孔，其中所述算法还利用参考基线水平来提供对所述孔的光散射效应的校正。

6.一种分析复合片材（180）的非核方法，所述复合片材包括具有第二材料的片材材料（180a），所述第二材料作为其上的涂层（180b）或作为其中的嵌入粒子（180c），所述方法包括：

使用x射线传感器（110）确定来自照射所述复合片材的X射线的x射线信号；

使用红外IR传感器（120）确定来自照射所述复合片材的IR的IR信号，以及

在无需核量计的情况下从所述x射线信号和所述IR信号确定多个重量，所述多个重量选自所述片材材料的重量、所述第二材料的重量和所述复合片材的总重量。

7.根据权利要求6所述的方法，其中所述第二材料包括陶瓷材料，并且其中所述片材材料包括聚合物材料。

8.根据权利要求7所述的方法，其中所述陶瓷材料包括Al₂O₃、SiO₂或ZrO₂，并且其中所述聚合物材料包括聚乙烯PE或聚丙烯PP，或所述聚乙烯 PE和所述聚丙烯 PP的组合。

9.根据权利要求6所述的方法，其中所述片材材料具有孔，并且其中所述确定包括利用算法，所述算法还利用参考基线水平来提供对所述孔的光散射效应的校正。

10.根据权利要求6所述的方法，其中在生产所述复合片材期间实施所述方法，所述复合片材具有所述多个重量，所述多个重量用于控制用于形成所述第二材料的涂覆工艺的至少一个参数。