[发明专利]GaN基板的切断方法在审
申请号: | 201980063202.1 | 申请日: | 2019-08-26 |
公开(公告)号: | CN112752637A | 公开(公告)日: | 2021-05-04 |
发明(设计)人: | 浅井义之;北市充 | 申请(专利权)人: | 三星钻石工业股份有限公司 |
主分类号: | B28D5/00 | 分类号: | B28D5/00;C30B29/38;C30B33/00;H01L21/301 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 肖茂深 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | gan 切断 方法 | ||
1.一种GaN基板的切断方法,其使用在外周形成有槽部的刻划轮将GaN基板切断,
所述GaN基板的切断方法的特征在于,具有:
刻划工序,在所述刻划工序中,使所述刻划轮的刀尖相对于所述GaN基板垂直接触,对所述刻划轮施加载荷并使所述刻划轮滚动,从而形成刻划线;以及
断开工序,在所述断开工序中,将形成有所述刻划线的GaN基板切断。
2.根据权利要求1所述的GaN基板的切断方法,其特征在于,
在所述刻划工序中,在所述刻划线的下方不产生垂直裂缝。
3.根据权利要求1或2所述的GaN基板的切断方法,其特征在于,
在所述刻划工序中,将刻划时的载荷设为1.2N以上且6.2N以下。
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