[发明专利]化合物的合成适用性的评价方法、化合物的合成适用性的评价程序及化合物的合成适用性的评价装置

权利要求书

1.一种化合物的合成适用性的评价方法，其具有如下工序：

选择容纳有成为合成适用性的评价基准的多个基准化合物的化合物数据库的工序；

决定作为合成适用性的评价对象的化合物的结构的工序；

从容纳于所述化合物数据库中的所述基准化合物的结构中提取基准原子排列并求出所述基准原子排列的基准出现频度的工序；

从所述化合物的结构中提取原子排列并求出所述原子排列的出现频度的工序；及

根据所述化合物的所述原子排列中所包含的键条数及与所述原子排列相对应的所述基准原子排列的所述出现频度来评价合成适用性的工序。

2.根据权利要求1所述的化合物的合成适用性的评价方法，其中，

在所述评价合成适用性的工序中，对每个所述原子排列进行局部性的部分评价，通过将所述部分评价进行合计的合计评价来进行评价。

3.根据权利要求1或2所述的化合物的合成适用性的评价方法，其中，

在所述评价合成适用性的工序中，对每个所述原子排列计算部分得分并进行数值化，并且将所述部分得分进行合计，根据合计得分进行评价。

4.根据权利要求3所述的化合物的合成适用性的评价方法，其中，

所述部分得分的计算中使用所述原子排列在所述化合物数据库中的出现频度为0时不具有奇点的函数。

5.根据权利要求3或4所述的化合物的合成适用性的评价方法，其具有如下工序：

根据所述合计得分来评价所述化合物与容纳于所述化合物数据库中的所述基准化合物的特征的相似性。

6.根据权利要求1至5中任一项所述的化合物的合成适用性的评价方法，其中，

在所述评价合成适用性的工序中，使用单调递减或单调递增的函数来进行评价。

7.根据权利要求1至6中任一项所述的化合物的合成适用性的评价方法，其中，

所提取的所述基准原子排列及所述原子排列为直链状、支链状、环状或它们的组合的原子排列。

8.根据权利要求1至7中任一项所述的化合物的合成适用性的评价方法，其中，

当原子的电子态不同时，所述基准原子排列及所述原子排列作为不同的原子排列而被提取。

9.根据权利要求1至8中任一项所述的化合物的合成适用性的评价方法，其中，

在从所述化合物的结构中提取所述原子排列时，不提取键的端部为氢的原子排列。

10.一种化合物的合成适用性的评价程序，其使计算机执行权利要求1至9中任一项所述的化合物的合成适用性的评价方法。

11.一种记录介质，其为非临时性且计算机可读的记录介质，其中，

当存储于所述记录介质中的指令被计算机读取时，使计算机执行权利要求10所述的程序。

12.一种化合物的合成适用性的评价装置，其具有：

数据库选择部，选择容纳有成为合成适用性的评价基准的多个基准化合物的化合物数据库；

结构获取部，获取作为合成适用性的评价对象的化合物的结构；

第1提取部，从容纳于所述化合物数据库中的所述基准化合物的结构中提取基准原子排列并求出所述基准原子排列的基准出现频度；

第2提取部，从所述化合物的结构中提取原子排列并求出所述原子排列的出现频度；

计算部，根据所述化合物的所述原子排列中所包含的键条数及与所述原子排列相对应的所述基准原子排列的所述出现频度，使用所述原子排列中所包含的键条数及所述出现频度越大则数值越小的函数，将所述原子排列在所述基准化合物中出现的频度作为部分得分而进行计算，并且将所述部分得分进行合计来计算合计得分；及

评价部，根据所述合计得分来评价合成适用性。