[发明专利]光学测量装置及光学测量方法有效

专利信息
申请号: 201980057874.1 申请日: 2019-12-26
公开(公告)号: CN112639392B 公开(公告)日: 2022-09-20
发明(设计)人: 梶井阳介;近藤智则 申请(专利权)人: 欧姆龙株式会社
主分类号: G01B11/00 分类号: G01B11/00
代理公司: 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 代理人: 杨贝贝;臧建明
地址: 日本京都府京都市下京区盐小路通堀川东入*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 光学 测量 装置 测量方法
【权利要求书】:

1.一种光学测量装置,基于由对象物反射的反射光的光接收量来获得测量值,其特征在于,所述光学测量装置包括:

设定部,基于与所述光学测量装置的光量相关的特性信息,设定相对于所述反射光的每单位时间的光接收量的阈值;

判定部,基于所述阈值来判定所述测量值的噪声的有无;

控制器,包括发出光的光源;以及

传感器头,包括将所述反射光聚光的光学系统,

所述设定部基于与所述控制器的光量相关的第一特性信息以及与所述传感器头的光量相关的第二特性信息来设定所述阈值,其中

将所述反射光的每单位时间的光接收量作为基准值,将算出所述控制器相对于所述基准值的控制器相对系数作为所述第一特性信息,以及将算出所述传感器头相对于所述基准值的传感器头相对系数作为所述第二特性信息。

2.根据权利要求1所述的光学测量装置,其特征在于,

所述控制器还包括存储所述第一特性信息的第一存储部,

所述传感器头还包括存储所述第二特性信息的第二存储部。

3.根据权利要求1或2所述的光学测量装置,其特征在于,还包括:

输入部,用于输入参数,

所述设定部基于所述第一特性信息、所述第二特性信息以及所述参数来设定所述阈值。

4.根据权利要求1或2所述的光学测量装置,其特征在于,还包括:

测量部,基于所述反射光的光接收量来测量从所述光学测量装置到所述对象物的距离作为所述测量值。

5.根据权利要求4所述的光学测量装置,其特征在于,

当由所述判定部判定为所述距离中有噪声时,所述测量部不测量所述距离。

6.根据权利要求4所述的光学测量装置,其特征在于,

所述光包括多个波长成分,

所述光学系统使所述光产生沿着光轴方向的色差,将产生了色差的光照射至所述对象物,并且将所述反射光聚光,

所述光学测量装置还包括光接收部,所述光接收部对所述反射光的光接收量进行检测,且构成为能够针对每个所述波长成分检测光接收量。

7.根据权利要求6所述的光学测量装置,其特征在于,

所述测量部基于所述反射光的每个所述波长成分的光接收量分布中的峰值光接收量来测量所述距离。

8.一种光学测量方法,为光学测量装置所使用,所述光学测量装置基于由对象物反射的反射光的光接收量来获得测量值,其特征在于,所述光学测量方法包括:

设定步骤,基于与所述光学测量装置的光量相关的特性信息,设定相对于所述反射光的每单位时间的光接收量的阈值;以及

判定步骤,基于所述阈值来判定所述测量值的噪声的有无,

所述光学测量装置包括:控制器,包括发出光的光源;以及传感器头,包括将所述反射光聚光的光学系统,

所述设定步骤包括:基于与所述控制器的光量相关的第一特性信息以及与所述传感器头的光量相关的第二特性信息来设定所述阈值,其中

将所述反射光的每单位时间的光接收量作为基准值,将算出所述控制器相对于所述基准值的控制器相对系数作为所述第一特性信息,以及将算出所述传感器头相对于所述基准值的传感器头相对系数作为所述第二特性信息。

9.根据权利要求8所述的光学测量方法,其特征在于,还包括:

输入步骤,用于输入参数,

所述设定步骤包括:基于所述第一特性信息、所述第二特性信息以及所述参数来设定所述阈值。

10.根据权利要求8或9所述的光学测量方法,其特征在于,还包括:

测量步骤,基于所述反射光的光接收量来测量从所述光学测量装置到所述对象物的距离作为所述测量值。

11.根据权利要求10所述的光学测量方法,其特征在于,

当在所述判定步骤中判定为所述距离中有噪声时,所述测量步骤不测量所述距离。

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