[发明专利]光学时域反射仪、光学传输线路的测试方法以及光学传输线路的测试系统有效

专利信息
申请号: 201980055376.3 申请日: 2019-04-25
公开(公告)号: CN112601945B 公开(公告)日: 2022-10-28
发明(设计)人: 松本悠平;小熊健史;新谷和则 申请(专利权)人: 日本电气株式会社
主分类号: G01M11/00 分类号: G01M11/00;H04B10/071
代理公司: 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 代理人: 孙志湧;李兰
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 光学 时域 反射 传输 线路 测试 方法 以及 系统
【权利要求书】:

1.一种光学时域反射仪,包括:

光源,所述光源被配置为输出监视光;

光学检测单元,所述光学检测单元被配置为检测来自光学传输线路的返回光并且输出指示所述返回光的强度的检测信号;

光学复用器/解复用器,所述光学复用器/解复用器被配置为将从所述光源输入的所述监视光输出到所述光学传输线路,并且将从所述光学传输线路输入的所述返回光输出到所述光学检测单元;

处理单元,所述处理单元被配置为检测所述检测信号的值变为小于第一阈值的第一时刻,检测所述检测信号的值变为小于不同于所述第一阈值的第二阈值的第二时刻,以及计算第一变化率,所述第一变化率是在所述第一时刻和所述第二时刻之间的时段中的所述检测信号的变化率,其中,

所述处理单元:

通过改变所述第一阈值和所述第二阈值,计算多个时段的所述第一变化率;以及

当作为第一时段中的所述第一变化率和与所述第一时段相邻的第二时段中的所述第一变化率之间的变化率的第二变化率大于变化率阈值时,将与所述第一时段中的所述第一时刻或所述第二时刻相对应的位置检测为所述光学传输线路的破坏位置。

2.根据权利要求1所述的光学时域反射仪,其中,所述第一时段中的所述第二阈值等于所述第二时段中的所述第一阈值。

3.根据权利要求1或2所述的光学时域反射仪,其中,

所述第二阈值Vthi由Vthi+1=Vthi+ΔVi或Vthi+1=Vthi-ΔVi表示,其中,

将i定义为等于或大于0的整数,

将所述检测信号的值变为小于所述第一阈值Vthi的时刻定义为Ti

将所述检测信号的值变为小于所述第二阈值Vthi+1的时刻定义为Ti+1

将所述第一阈值Vthi和所述第二阈值Vthi+1之间的差的绝对值定义为ΔVi,以及

将当i=0时的所述第一阈值Vthi的初始值定义为Vth0。

4.根据权利要求3所述的光学时域反射仪,其中,

当i等于或大于1时,将所述第一时段中的所述第一变化率定义为Ri-1,将所述第二时段中的所述第一变化率定义为Ri

所述第二变化率ΔRi由ΔRi=|Ri-Ri-1|表示。

5.根据权利要求4所述的光学时域反射仪,其中,

当所述第二变化率ΔRi变为大于所述变化率阈值时,

所述处理单元:

在Vthi+1=Vthi+ΔVi的情况下,将与所述第一时刻相对应的位置检测为所述光学传输线路的所述破坏位置,并且

在Vthi+1=Vthi-ΔVi的情况下,将与所述第二时刻相对应的位置检测为所述光学传输线路的所述破坏位置。

6.根据权利要求2所述的光学时域反射仪,其中,当所述检测信号大于所述第一阈值且小于第三阈值时,所述处理单元检测到在所述光学传输线路中已经发生了与所述破坏不同的故障。

7.根据权利要求6所述的光学时域反射仪,其中,当所述检测信号大于所述第一阈值且小于所述第三阈值时,所述处理单元检测到所述光学传输线路已经劣化。

8.根据权利要求6所述的光学时域反射仪,其中,当所述检测信号变为小于所述第三阈值并且然后所述检测信号变为大于所述第三阈值时,所述处理单元检测到通过所述光学传输线路传输的光学信号的瞬时中断已经发生。

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