[发明专利]电磁波检测装置以及信息获取系统

说明书

电磁波检测装置(100)具有：波长分离部(123)，第一波段的电磁波的透过率大于所述第一波段以外的电磁波的透过率；波长选择部(124)，第二波段的电磁波的透过率大于第二波段以外的电磁波的透过率；以及第一检测部(130)，对经由波长分离部(123)以及波长选择部(124)行进的电磁波进行检测。第一波段与第二波段一部分重叠。

相关申请的相互参照

本申请主张2018年7月27日在日本申请的日本特愿2018-141356号的优先权，并将该在先申请的全部公开内容引入本申请用于参照。

技术领域

本发明涉及电磁波检测装置以及信息获取系统。

背景技术

在专利文献1中公开了一种系统，在该系统中，向测定对象照射特定的波段的激光，通过检测该激光被测定对象反射的反射光，来获取测定对象的三维图像信息。

现有技术文献

专利文献

专利文献1：日本专利第4401989号

发明内容

用于解决问题的技术方案

一个方式的电磁波检测装置，具有：第一透过部，第一波段的电磁波的透过率大于所述第一波段以外的电磁波的透过率；第二透过部，第二波段的电磁波的透过率大于所述第二波段以外的电磁波的透过率；以及第一检测部，对经由所述第一透过部以及所述第二透过部行进的电磁波进行检测，所述第一波段与所述第二波段一部分重叠。

一个方式的信息获取系统，包括：上述的电磁波检测装置；以及控制部，基于所述第一检测部的电磁波的检测结果，来获取与周围相关的信息。

如上所述，将本发明的解决方案以装置和系统的方式进行说明，但本发明也能够作为包含这些的方式来实现，另外，也能够作为实质上与这些相当的方法、程序、记录有程序的存储介质来实现，这些也包含于本发明的范围。

附图说明

图1是表示现有的电磁波检测装置的概略结构的图。

图2是表示通常的带通滤波器的光谱特性的图。

图3是表示包含本发明的第一实施方式的电磁波检测装置的信息获取系统的概略结构的图。

图4是表示图3所示的电磁波检测装置的概略结构的一例的图。

图5是表示作为图4所示的波长分离部的长通滤波器、以及作为波长选择部的短通滤波器的光谱特性的一例的图。

图6是表示图3所示的电磁波检测装置的概略结构的另一例的图。

图7是表示图4所示的波长分离部以及波长选择部的一方是长通滤波器，另一方是带通滤波器的情况下的光谱特性的一例的图。

图8是表示图4所示的波长分离部以及波长选择部的一方是短通滤波器，另一方是带通滤波器的情况下的光谱特性的一例的图。

图9是表示图4所示的波长分离部以及波长选择部是带通滤波器的情况下的光谱特性的一例的图。

图10是表示图4所示的波长分离部以及波长选择部是短通滤波器的情况下的光谱特性的一例的图。

图11是表示图4所示的波长分离部以及波长选择部是短通滤波器的情况下的光谱特性的另一例的图。

图12是表示图4所示的波长分离部以及波长选择部是长通滤波器的情况下的光谱特性的一例的图。

图13是表示图4所示的波长分离部以及波长选择部是长通滤波器的情况下的光谱特性的另一例的图。

图14是表示本发明的第二实施方式的电磁波检测装置的概略结构的一例的图。