[发明专利]显示装置在审
申请号: | 201980045665.5 | 申请日: | 2019-06-27 |
公开(公告)号: | CN112384849A | 公开(公告)日: | 2021-02-19 |
发明(设计)人: | 宫本素明;石川智一 | 申请(专利权)人: | 株式会社日本显示器 |
主分类号: | G02F1/1368 | 分类号: | G02F1/1368;G02F1/1343 |
代理公司: | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人: | 吕文卓 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 显示装置 | ||
提供抑制由于接触孔周围的取向膜引起的显示不均的显示装置。显示装置具备阵列基板、对置基板和液晶层。在阵列基板的一个面,设有在第1方向上隔开间隔排列的多个信号线、在第2方向上隔开间隔排列的多个扫描线、第1有机绝缘膜、以及设在第1有机绝缘膜之上的第2有机绝缘膜。第2接触导电层经由在第1有机绝缘膜中开设的第1接触孔而与第1接触导电层接触。第2接触导电层与第1接触导电层接触的接触区域的至少一部分被第2有机绝缘膜覆盖。经由在第2有机绝缘膜中开设的第2接触孔,第1电极与第2接触导电层电连接。此外,第1接触孔和第2接触孔相互在第2方向上错开。
技术领域
本发明涉及显示装置。
背景技术
在专利文献1中,记载有抑制由接触孔周围的取向膜引起的显示不均的显示装置。
现有技术文献
专利文献
专利文献1:日本特开2017-146449号公报
发明内容
发明要解决的课题
在专利文献1的技术中,虽然抑制了由接触孔周围的取向膜引起的显示不均,但希望进一步抑制显示不均的发生。
本发明的目的在于,提供抑制由接触孔周围的取向膜引起的显示不均的显示装置。
用来解决课题的手段
一技术方案的显示装置具备:阵列基板;对置基板,具备滤色器;以及液晶层,在上述阵列基板与上述对置基板之间;在上述阵列基板的一个面,设有在第1方向上隔开间隔排列的多个信号线、在第2方向上隔开间隔排列的多个扫描线、设在上述信号线之上的第1有机绝缘膜、以及设在上述第1有机绝缘膜之上的第2有机绝缘膜;在被上述扫描线和上述信号线包围的区域,分别设有半导体层、第1接触导电层、第2接触导电层和第1电极;在上述半导体层的第1部分,电连接着上述信号线,在上述半导体层的第2部分,电连接着上述第1接触导电层;上述第2接触导电层经由在上述第1有机绝缘膜中开设的第1接触孔而与上述第1接触导电层接触;上述第2接触导电层与上述第1接触导电层接触的接触区域的至少一部分被上述第2有机绝缘膜覆盖;经由在上述第2有机绝缘膜中开设的第2接触孔,上述第1电极与上述第2接触导电层电连接;上述第1接触孔和上述第2接触孔相互在上述第2方向上错开。
附图说明
图1是表示实施方式1的显示装置的分解立体图。
图2是示意地表示阵列基板的平面图。
图3是表示实施方式1的显示区域的像素排列的电路图。
图4是在像素的示意性平面图中说明检测电极的平面图。
图5是在像素的示意性平面图中说明像素电极的平面图。
图6是说明图4的VI-VI’剖面的局部剖面图。
图7是用来说明实施方式1的开关元件的平面图。
图8是用来说明实施方式1的接触孔的平面图。
图9是说明图8的IX-IX’剖面的局部剖面图。
图10是用来说明金属布线的宽度扩大部的剖面图。
图11是用来说明传感器布线的宽度扩大部的剖面图。
图12是用来说明金属布线的宽度扩大部的剖面图。
图13是用来说明金属布线的宽度扩大部的平面图。
图14是用来说明实施方式2的接触孔的平面图。
图15是说明图14的XV-XV’剖面的局部剖面图。
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