[发明专利]用于B0映射的MRI方法在审
申请号: | 201980044558.0 | 申请日: | 2019-06-27 |
公开(公告)号: | CN112384817A | 公开(公告)日: | 2021-02-19 |
发明(设计)人: | M·富德勒 | 申请(专利权)人: | 皇家飞利浦有限公司 |
主分类号: | G01R33/24 | 分类号: | G01R33/24;G01R33/44;G01R33/561;G01R33/56 |
代理公司: | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人: | 刘兆君 |
地址: | 荷兰艾*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 b0 映射 mri 方法 | ||
1.一种用于确定预先选择的成像区中的静态磁场的空间分布的B0映射方法,包括根据以下项来计算静态磁场的所述空间分布:
来自所述成像区的磁共振回波信号之间的自旋-相位累加的空间分布,以及
对所述成像区中的质子密度分布的估计。
2.根据权利要求1所述的B0映射方法,还包括:
对与所述自旋-相位累加的分布一致的相位-估计磁化率分布的计算,
对与所估计的质子自旋密度分布一致的质子-估计磁化率分布的计算,
适配最终磁化率分布以便使(i)所述最终磁化率分布与所述相位-估计磁化率分布之间的差异和(ii)所述最终磁化率分布与所述质子-估计磁化率分布之间的差异两者最小化,
根据所述最终磁化率分布来计算所述静态磁场的所述空间分布。
3.根据权利要求2所述的B0映射方法,其中,
所述最终磁化率分布以迭代方式来计算,其中,迭代在以下各项的约束之间:
所述最终磁化率分布与所述相位-估计磁化率分布之间的最小差异,以及
所述最终磁化率分布与所述质子-估计磁化率分布之间的最小差异。
4.根据前述权利要求中的任一项所述的B0映射方法,其中,所估计的质子密度分布由至少三个分量的分割形成。
5.根据权利要求4所述的B0映射方法,其中,所述分割至少包含分别表示软组织、间质空隙和空气的分量。
6.根据权利要求5所述的B0映射方法,其中,所述分割还包含分别表示硅酮、金属和陶瓷的分量。
7.根据权利要求1至3中的任一项所述的B0映射方法,其中,所估计的质子密度分布由至多三个分量的分割形成,优选地由至多分别表示软组织、间质空隙和空气的分量的分割形成。
8.根据权利要求3至7中的任一项所述的B0映射方法,其中,所述迭代流程根据所述静态磁场的所述空间分布的初始估计以及优选地所述静态磁场的所述空间分布的准确度来初始化。
9.根据权利要求3至7中的任一项所述的能够应用的B0映射,其中,自相一致的最小化流程使(i)所述最终磁化率分布与所述相位-估计磁化率分布之间的差异和(ii)所述最终磁化率分布与所述质子-估计磁化率分布之间的差异最小化。
10.一种用于确定预先选择的成像区中的静态磁场的空间分布的计算机程序,包括根据以下项来计算静态磁场的所述空间分布的指令:
来自所述成像区的磁共振回波信号之间的自旋-相位累加的空间分布,以及
对所述成像区中的质子密度分布的估计。
11.一种安装有根据权利要求10所述的计算机程序的磁共振检查系统。
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