[发明专利]检查方法、检查系统及记录介质

说明书

本发明的检查方法、检查系统及记录介质容易选择生产步骤中所应用的检查项目和/或检查基准，且能够将恰当的检查项目和/或检查基准应用于生产步骤中。检查方法通过检查程序来进行搭载有零件的物品的检查，包括：设定步骤，针对每个零件来设定包含检查项目和/或检查基准的检查信息；及判定步骤，通过检查程序来判定物品的品质，在设定步骤中，基于产品编号数据群来设定检查信息，在判定步骤中，基于参照产品编号数据群而获得的检查信息，针对每个零件来判定品质，且进而包括参照数据更新步骤，更新检查程序参照的产品编号数据群，在参照数据更新步骤中，将产品编号数据群中的规定的检查信息在满足规定条件的范围内更新为最新的产品编号数据群。

技术领域

本发明属于与搭载零件的物品的检查相关的技术领域，尤其涉及一种检查方法、检查系统及记录介质。

背景技术

作为检查零件对基板的安装状态等的装置，广泛使用自动外观检查装置。此种装置中，通过传感器而获得安装有零件的基板(也包括焊接前的状态的基板)的外观信息，并对各零件进行与此零件相应的项目的测量。而且，通过将所得的结果与规定的检查基准相对照，而进行良品或不良品的判别。

此处，若所设定的检查项目或检查基准并不恰当，则会发生：将实际上为良品者判断为不良品的“错检”、或将实际上为不良品者判断为良品的“漏检”。“错检”会导致检查效率的恶化，“漏检”会降低制造步骤的可靠性且使后续步骤的作业效率恶化。而且，任一者均成为使制造步骤的费用增加的原因，因而理想的是使“错检”及“漏检”最小化。

然而，若为了减少“漏检”而使检查基准变严格，则“错检”增加，若为了减少“错检”而放宽检查基准，则“漏检”增加，因此需要设定恰当的检查项目及检查基准。

因此，在实施量产品的检查之前，利用基板或零件的验证图像来进行检查项目或检查基准的调整，在完成所述调整后将所述检查项目或检查基准应用于实际的生产线中。然而，之前是在对一个基板上所配置的全部零件产品编号进行检查项目或检查基准的调整后，以可在量产检查中实施的方式扩展至量产程序中，因而，根据零件产品编号的不同，也会存在品质不固定者，存在产生“错检”或“漏检”的情况。

此处，关于能够识别各零件的数据的可靠性的技术，提出有以下技术：当制作电子零件装配装置的图案程序中使用的电子零件的零件程序馆(library)的数据时，根据制作状态来进行可靠度的分级，将已分级的制作状态附加至所述数据中，由此，在建立(setup)作业时等，在使用零件程序馆的情况下，哪一电子零件为可靠者便一目了然(参照专利文献1)。然而，所述现有技术并不能够针对每个零件而使基板检查等中的检查项目或检查基准最佳化。

另外，如上文所述，当在实施量产品的检查之前，利用基板或零件的验证图像来进行检查项目或检查基准的调整时，重要的问题在于以何种程度提升检查项目或检查基准的可靠度后应用于生产步骤中。例如，关于对检查项目或检查基准进行修订管理，且将哪一修订应用于生产步骤，考虑由与调整相关的用户决定，但存在操作变繁杂，降低系统的通用性的情况。另外，在单纯将最新修订应用于生产步骤中的情况下，存在应用未必恰当的检查项目或检查基准的情况。

现有技术文献

专利文献

专利文献1：日本专利特开2014-183216号公报(日本专利第6219579号公报)

专利文献2：日本专利特开2008-45952号公报

专利文献3：日本专利特开2006-250610号公报

专利文献4：日本专利特开2001-24321号公报

发明内容

发明所要解决的问题

本发明是鉴于如上所述的实际情况而成，其目的在于提供一种更容易选择生产步骤中所应用的检查项目和/或检查基准，并且能够更确实地将恰当的检查项目和/或检查基准应用于生产步骤中的技术。