[发明专利]显示单元的异物检查系统

说明书

本发明的一个示例性实施方案提供了用于显示单元的异物检查系统，其包括：照明单元，所述照明单元配置成向具有有机发光显示面板的显示单元提供入射光；和异物检测单元，所述异物检测单元配置成接收当所述入射光被所述显示单元反射时提供的反射光并检测异物是否被引入到显示单元中。

技术领域

本发明涉及检查异物是否被引入到显示单元中的用于显示单元的异物检查系统。

背景技术

显示单元可以通过将膜附接至显示面板来制造。在制造显示单元的过程期间，有时异物例如气泡和粉尘被引入在膜与面板之间。

由于引入的异物在由显示单元显示的图像上形成有缺陷的区域，因此需要在发行显示单元之前将具有引入的异物的显示单元分类为有缺陷的产品。

目前，最常用的显示单元为液晶显示单元，其中将膜附接至液晶面板的两个表面，使得膜的透射轴垂直于液晶面板的表面。

在液晶显示单元中，当光入射在液晶显示单元的一个表面上时，光可以朝液晶显示单元的另一个表面行进并被透射。此时，如果在膜与液晶面板之间引入有异物，则光散射。

因此，为了检查异物是否被引入到液晶显示单元中，使光入射在液晶显示单元的一个表面上，然后可以根据通过朝另一个表面行进而透射的光是否散射来确定是否引入有异物。

然而，在逐渐且越来越多地被使用的有机发光显示单元的情况下，难以使用能够检查异物是否被引入到液晶显示器中的光透射光学系统。

原因在于，与在液晶层的两侧设置透明基底的液晶显示面板不同，在有机发光显示单元的有机发光显示面板的情况下，在有机发光层的一侧设置不透明基底，在有机发光层的另一侧设置对可见侧透明的基底。

因此，由于光透射光学系统难以使光从有机发光显示单元的一侧向另一侧透射，因此需要另外类型的异物检查装置代替光透射光学系统。

发明内容

技术问题

本发明的示例性实施方案致力于提供能够在不使用光透射光学系统的情况下检查异物是否被引入到有机发光显示单元中的系统。

技术方案

本发明的一个示例性实施方案提供了用于显示单元的异物检查系统，其包括：照明单元，所述照明单元配置成向具有有机发光显示面板的显示单元提供入射光；和异物检测单元，所述异物检测单元配置成接收当入射光被显示单元反射时提供的反射光并检测异物是否被引入到显示单元中。

在本示例性实施方案中，显示单元可以包括设置在有机发光显示面板上的四分之一波片(quarter-wave plate，QWP)和设置在四分之一波片上的偏光板。

在本示例性实施方案中，当异物检测单元确定提供了反射光时，异物检测单元可以确定异物被引入到显示单元中。

在本示例性实施方案中，照明单元可以向显示单元提供倾斜入射角小于90°的入射光。

在本示例性实施方案中，异物检测单元可以包括图像捕获单元和控制单元，所述图像捕获单元配置成接收反射光并捕获显示单元的图像，所述控制单元配置成接收来自图像捕获单元的显示单元的图像并检测异物是否被引入到显示单元中。

有益效果

根据本发明的示例性实施方案，可以在不使用光透射光学系统的情况下检查异物是否被引入到有机发光显示单元中。

附图说明

图1是示意性地示出根据本发明的一个示例性实施方案的显示单元的结构和外部光的行进路径的示意图。

图2是示意性地示出当异物被引入到根据本发明的示例性实施方案的显示单元中时外部光的行进路径的示意图。