[发明专利]X射线传感器、构造X射线传感器的方法以及包括这种X射线传感器的X射线成像系统在审
申请号: | 201980036862.0 | 申请日: | 2019-05-27 |
公开(公告)号: | CN112204431A | 公开(公告)日: | 2021-01-08 |
发明(设计)人: | 米耶特克·邦科夫斯基·霍尔特雷德;马茨·丹尼尔松;许成 | 申请(专利权)人: | 棱镜传感器公司 |
主分类号: | G01T1/24 | 分类号: | G01T1/24;A61B6/03;G01N23/046;H01L31/0224;H01L31/115 |
代理公司: | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人: | 李小爽 |
地址: | 瑞典斯*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 射线 传感器 构造 方法 以及 包括 这种 成像 系统 | ||
1.一种X射线传感器(1),具有包括设置于所述X射线传感器(1)的表面区域(3)上的多个检测器二极管(2)的有源检测器区域,所述X射线传感器(1)还包括围绕包括所述多个检测器二极管(2)的所述表面区域(3)的结终端(4),所述结终端(4)包括最靠近所述表面区域(3)的端部设置的防护件(5)、设置于所述防护件(5)外侧的场阑(6)以及设置于所述防护件(5)与所述场阑(6)之间的N个场限环FLR(7),其中每个FLR(7)定位成使所述防护件(5)与第一FLR之间的距离以及不同FLR(7)之间的距离满足以下约束条件:
-这些距离位于有效区域内,所述有效区域由线α=(10+1.3×(n-1))μm和β=(5+1.05×(n-1))μm限定,和
-连续FLR(7)之间的距离是恒定的或随着n的增加而增加,其中n表示FLR(7)的指数,其中1≤n≤N。
2.根据权利要求1所述的X射线传感器,其中N个FLR(7)放置在距所述防护件(5)一定距离处,所述距离由公式给出,其中n表示特定FLR(7)的指数,Δ1是所述防护件与最接近所述防护件5的所述第一FLR的中点位置之间的距离,δ表示长度参数,σ表示FLR的宽度,而Xn规定为防护环与指数为n的FLR(7)的中点位置之间的距离。
3.根据权利要求1或2所述的X射线传感器,其中长度参数δ选自区间[1.05μm,1.30μm]。
4.根据权利要求1-3中任一项所述的X射线传感器,其中间隔距离Δ1选自区间[5μm,10μm]。
5.根据权利要求1-4中任一项所述的X射线传感器(1),其中FLR的数量N选自区间1≤N≤10。
6.根据权利要求5所述的X射线传感器(1),其中FLR的数量N选自区间3≤N≤8。
7.根据权利要求6所述的X射线传感器(1),其中FLR的数量N由N=6给出。
8.根据权利要求1-7中任一项所述的X射线传感器(1),其中防护环(5)与设置于所述表面区域(3)上的最近检测器二极管(2)之间的距离Δg选自区间10μm≤Δg≤100μm,优先选自选自区间20μm≤Δg≤40μm。
9.根据权利要求1-8中任一项所述的X射线传感器(1),其中防护环(5)的宽度ω选自区间20μm≤ω≤100μm,优选区间25μm≤ω≤55μm,并且更优选在区间45μm≤ω≤55μm内,并且还更优选在区间49μm≤ω≤51μm内。
10.根据权利要求1-9中任一项所述的X射线传感器,其中所述有源检测器区域包括掺杂材料,所述掺杂材料具有区间1×1010cm-3至1×1012cm-3内的掺杂浓度。
11.根据权利要求1-10中任一项所述的X射线传感器,其中所述有源检测器区域包含掺杂硅,所述掺杂硅具有与所述场限环相反的掺杂类型。
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