[发明专利]确定性星体内建自测

权利要求书

1.一种用于测试电路的系统，包括：

扫描链，其包括扫描单元，所述扫描链被配置为：在测试模式下移入测试向量，将所述测试向量应用至所述电路，捕获所述电路的测试响应，以及移出所述测试响应；

控制器，其包括存储电路，所述控制器被配置为基于存储在所述存储电路中的子测试向量信息来生成比特位反转信号；和

比特位反转电路，其耦合至所述控制器，所述比特位反转电路被配置为在移位操作期间基于所述比特位反转信号来反转与多个移位时钟周期相关联的父测试向量的比特位，以生成子测试向量，其中用于比特位反转的所述多个移位时钟周期在每m个移位时钟周期发生一次，并且所述子测试向量信息包括m的信息和所述移位操作中的所述多个移位时钟周期的位置。

2.根据权利要求1所述的系统，其中，对于测试集的所有父测试向量的所有子向量，m是相同的。

3.根据权利要求1所述的系统，其中，所述父测试向量和所述移位操作中的所述多个移位时钟周期的位置由测试向量生成软件工具来确定，所述测试向量生成软件工具执行向量生成过程，所述向量生成过程包括：首先执行电路结构分析以识别超级门，使用所述超级门运行自动测试向量生成(ATPG)过程以确定父测试向量，并生成所述父测试向量的子测试向量。

4.根据权利要求3所述的系统，其中，所述向量生成过程还包括：执行向量重新排序，并保存有效的子测试向量。

5.根据权利要求1所述的系统，还包括：

测试向量解压缩电路，所述测试向量解压缩电路被配置为将压缩的父测试向量解压缩为所述父测试向量。

6.根据权利要求5所述的系统，其中，在所述测试向量解压缩电路中执行所述反转比特位。

7.根据权利要求5所述的系统，其中，所述测试向量解压缩电路包括铃流发生器和移相器。

8.根据权利要求7所述的系统，其中，由插入在所述铃流发生器和所述移相器之间的XOR门来执行所述反转比特位。

9.根据权利要求1的所述系统，其中，所述存储电路包括用于存储m的信息的第一寄存器和用于存储在所述移位操作中的所述多个移位时钟周期的位置的信息的第二寄存器。

10.根据权利要求9所述的系统，其中，所述控制器还包括递减计数器，所述递减计数器耦合到所述第二寄存器的输出，并且基于将所述递减计数器的输出和所述第一寄存器的输出进行组合来生成所述比特位反转信号。

11.一个或多个计算机可读介质，其存储用于使计算机执行方法的计算机可执行指令，所述方法包括：

在电路设计中创建系统，以用于测试根据所述电路设计所制造的电路，所述系统包括：

扫描链，其包括扫描单元，所述扫描链在测试模式下被配置为移入测试向量，将所述测试向量应用至所述电路，捕获所述电路的测试响应，以及移出所述测试响应；

控制器，其包括存储电路，所述控制器被配置为基于存储在所述存储电路中的子测试向量信息来生成比特位反转信号；和

比特位反转电路，其耦合至控制器，所述比特位反转电路被配置为在移位操作期间基于所述比特位反转信号来反转与多个移位时钟周期相关联的父测试向量的比特位，以生成子测试向量，其中用于比特位反转的所述多个移位时钟周期在每m个移位时钟周期发生一次，并且所述子测试向量信息包括m的信息和所述移位操作中的所述多个移位时钟周期的位置。

12.根据权利要求11所述的一个或多个计算机可读介质，其中，对于测试集的所有父测试向量的所有子向量，m是相同的。