[发明专利]用于检测存储器系统中的错误的自适应扫描频率有效
申请号: | 201980032753.1 | 申请日: | 2019-05-16 |
公开(公告)号: | CN112119382B | 公开(公告)日: | 2022-02-25 |
发明(设计)人: | K·R·布兰特;W·C·菲利皮亚克;M·G·麦克尼雷;K·K·姆奇尔拉;S·K·瑞特南;合田晃;T·A·马夸特 | 申请(专利权)人: | 美光科技公司 |
主分类号: | G06F11/30 | 分类号: | G06F11/30;G06F3/06 |
代理公司: | 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 | 代理人: | 王龙 |
地址: | 美国爱*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 检测 存储器 系统 中的 错误 自适应 扫描 频率 | ||
以第一组扫描中的每个扫描之间的第一时间间隔对存储器系统中的存储器装置执行所述第一组扫描,以检测所述存储器装置上的错误,通过执行所述第一组扫描,确定在所述存储器装置上检测到的错误率在改变,以及响应于确定在所述存储器装置上检测到的所述错误率在改变,以第二组扫描中的每个扫描之间的第二时间间隔执行所述第二组扫描,以检测所述存储器装置上的错误,其中,所述第二时间间隔不同于所述第一时间间隔。
技术领域
本公开总体涉及一种存储器系统,并且更具体地,涉及一种用于检测存储器系统中的错误的自适应扫描频率。
背景技术
存储器系统可以是诸如固态驱动器(SSD)之类的存储系统,并且可以包含存储数据的一或多个存储器组件。例如,存储器系统可以包含诸如非易失性存储器装置和易失性存储器装置之类的存储器装置。通常,主机系统可以利用存储器系统来将数据存储在存储器系统的存储器装置处并检索存储在存储器系统处的数据。
发明内容
在一个方面,本申请涉及一种方法,所述方法包括:以第一组扫描中的每个扫描之间的第一时间间隔对存储器系统中的存储器装置执行所述第一组扫描,以检测所述存储器装置上的错误;通过执行所述第一组扫描,将第一错误率确定为所述第一组扫描中的第一数量的扫描检测到的错误比率,以及将第二错误率确定为所述第一组扫描中的第二数量的扫描检测到的错误比率;通过执行所述第一组扫描,通过将所述第一错误率与所述第二错误率进行比较,确定在所述存储器装置上检测到的错误率在改变;以及响应于通过执行所述第一组扫描确定在所述存储器装置上检测到的所述错误率在改变,以第二组扫描中的每个扫描之间的第二时间间隔执行所述第二组扫描,以检测所述存储器装置上的错误,其中,所述第二时间间隔不同于所述第一时间间隔。
在另一方面,本申请涉及一种系统,所述系统包括:存储器装置;和处理装置,联接到所述存储器装置,其中,所述处理装置被配置为:以第一数量的扫描中的每个之间的第一时间间隔执行所述第一数量的扫描,以检测所述存储器装置上的错误;将第一错误率确定为所述第一数量的扫描检测到的错误比率;以及响应于在所述存储器装置上检测到的所述错误率满足阈值,以第二数量的扫描中的每个之间的第二时间间隔执行所述第二数量的扫描,以检测所述存储器装置上的错误。
在另一方面,本申请涉及一种非暂时性计算机可读存储介质,所述非暂时性计算机可读存储介质包括指令,当由处理装置执行时,所述指令使所述处理装置执行以下操作:以第一组扫描中的每个扫描之间的第一时间间隔对存储器系统中的存储器装置执行所述第一组扫描,以检测所述存储器装置上的错误;通过执行所述第一组扫描,将第一错误率确定为所述第一组扫描中的第一数量的扫描检测到的错误比率,以及将第二错误率确定为所述第一组扫描中的第二数量的扫描检测到的错误比率;通过执行所述第一组扫描,通过将所述第一错误率与所述第二错误率进行比较,确定在所述存储器装置上检测到的错误率在改变;以及响应于通过执行所述第一组扫描确定在所述存储器装置上检测到的所述错误率在改变,以第二组扫描中的每个扫描之间的第二时间间隔执行所述第二组扫描,以检测所述存储器装置上的错误,其中,所述第二时间间隔不同于所述第一时间间隔。
附图说明
根据以下给出的详细描述和本公开的各种实施方式的附图,将更全面地理解本公开。
图1示出了根据本公开的多个实施例的包含存储器系统的示例计算环境。
图2是根据本公开的多个实施例的在检测存储器系统中的错误时动态地改变扫描频率的示例方法的流程图。
图3是根据本公开的多个实施例的扫描结果的示例的图。
图4是本公开的实施方式可以在其中操作的示例计算机系统的框图。
具体实施方式
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