[发明专利]石墨烯前体的判别方法、判别装置以及判别程序在审
| 申请号: | 201980031804.9 | 申请日: | 2019-02-26 |
| 公开(公告)号: | CN112105918A | 公开(公告)日: | 2020-12-18 |
| 发明(设计)人: | 佐佐木明登;室山知宏 | 申请(专利权)人: | 株式会社理学 |
| 主分类号: | G01N23/2055 | 分类号: | G01N23/2055;C01B32/20;C01B32/19 |
| 代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 王晖 |
| 地址: | 日本国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 石墨 烯前体 判别 方法 装置 以及 程序 | ||
1.一种石墨烯前体的判别方法,是针对六方晶系石墨层以及菱面体晶系石墨层混合的石墨原料的石墨烯前体的判别方法,其特征在于,包括:
针对石墨原料的粉末X射线衍射数据,确定衍射角的零点的步骤;
在形成所述石墨原料的石墨烯片材的面间隔以及所述石墨烯片材内的晶体结构在混合为所述石墨原料的任意的石墨层中均相同的假定下,根据所确定的所述零点,计算六方晶系石墨层以及菱面体晶系石墨层所特有的波峰位置的步骤;
对计算出的所述波峰位置处的积分强度进行计算的步骤;和
基于计算出的所述积分强度,判别所述石墨原料是否是石墨烯前体的步骤。
2.根据权利要求1所述的石墨烯前体的判别方法,其特征在于,
在确定所述衍射角的零点的步骤中,在形成所述石墨原料的石墨烯片材的面间隔在混合为所述石墨原料的任意的构造中均相同的假定下,使用以所述石墨烯片材为晶格面的衍射线的波峰位置。
3.根据权利要求2所述的石墨烯前体的判别方法,其特征在于,
在确定所述衍射角的零点的步骤中,使用以多个所述石墨烯片材为晶格面的衍射线的波峰位置。
4.根据权利要求1至3的任一项所述的石墨烯前体的判别方法,其特征在于,
在所述判别的步骤中,判定计算出的所述波峰位置处的六方晶系石墨层的101衍射线的积分强度值相对于菱面体晶系石墨层的101衍射线的积分强度值的比例是否为给定值以上。
5.根据权利要求4所述的石墨烯前体的判别方法,其特征在于,
将计算出的所述菱面体晶系石墨层的101衍射线的积分强度值设为P3,且将六方晶系石墨层的101衍射线的积分强度值设为P4时,判定P3/(P3+P4)是否为0.31以上。
6.一种判别装置,是针对六方晶系石墨层以及菱面体晶系石墨层混合的石墨原料的石墨烯前体的判别装置,其特征在于,具备:
零点确定部,针对石墨原料的粉末X射线衍射数据,确定衍射角的零点;
波峰位置计算部,在形成所述石墨原料的石墨烯片材的面间隔以及所述石墨烯片材内的晶体结构在混合为所述石墨原料的任意的石墨层中均相同的假定下,根据确定的所述零点,计算六方晶系石墨层以及菱面体晶系石墨层所特有的波峰位置;
积分强度计算部,对计算出的所述波峰位置处的积分强度进行计算;和
输出部,基于计算出的所述积分强度,能判别地输出为所述石墨原料是否是石墨烯前体。
7.一种判别程序,是针对六方晶系石墨层以及菱面体晶系石墨层混合的石墨原料的石墨烯前体的判别程序,其特征在于,使计算机执行如下处理:
针对石墨原料的粉末X射线衍射数据,确定衍射角的零点的处理;
在形成所述石墨原料的石墨烯片材的面间隔以及所述石墨烯片材内的晶体结构在混合为所述石墨原料的任意的石墨层中均相同的假定下,根据确定的所述零点,计算六方晶系石墨层以及菱面体晶系石墨层所特有的波峰位置的处理;
对计算出的所述波峰位置处的积分强度进行计算的处理;和
基于计算出的所述积分强度,能判别地输出为所述石墨原料是否是石墨烯前体的处理。
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