[发明专利]活体检测方法和设备(触摸行为)

权利要求书

1.一种检测导电表面处的可能的活体接触的方法，其中，所述活体具有接触部分，所述接触部分具有类似于阻抗桥的电特性，所述阻抗桥包括串联连接和并联连接的多个电阻器和多个电容器，并且具有特征上升时间和特征下降时间，其中，所述阻抗桥包括具有总电阻值的电阻器串(R₀+R₁+R₂)、和电阻器-电容器第一RC桥，所述电阻器-电容器第一RC桥包括具有第一电阻值的第一电阻器(R₁)和具有第一电容值的第一电容器(C₁)的并联连接，并且所述电阻器串(R₀+R₁+R₂)包括与所述第一RC桥串联连接并具有内部电阻值的内部电阻器(R₀)；并且其中，所述方法包括：

向所述接触表面发送电压脉冲的脉冲序列，其中，所述脉冲序列包括作为探测脉冲的多个电压脉冲，并且每个电压脉冲具有从作为基础电压电平的第一电压电平变化到第二电压电平的尖锐边缘、和在所述第二电压电平下的平坦区域；

检测来自所述接触表面的对所述脉冲序列的电流响应；以及

参考所述电流响应，确定在所述导电表面处是否存在可能的活体接触。

2.根据权利要求1所述的方法，其中，待检测的电流响应包括响应于所述脉冲序列而检测或接收的多个电流脉冲的峰值电流。

3.根据权利要求1或2所述的方法，其中，待检测的电流响应包括响应于所述脉冲序列而检测或接收的多个电流脉冲的稳态电流。

4.根据前述权利要求中任一项所述的方法，其中，所述方法包括检测多个连续电流响应脉冲的电流响应的峰值电流幅值是否随时间增加，并且其中，所述方法包括使用所述峰值电流幅值随时间的增加作为可能的人接触的指示。

5.根据前述权利要求中任一项所述的方法，其中，所述方法包括根据多个连续电流响应脉冲的电流响应的峰值电流幅值来确定所述第一电阻器的电阻值是否随时间减小，并且其中，所述方法包括使用所述第一电阻器的电阻值随时间的减小作为可能的人接触的指示。

6.根据前述权利要求中任一项所述的方法，其中，所述方法包括根据多个连续电流响应脉冲的电流响应的峰值电流幅值来确定所述内部电阻器的电阻值是否随时间减小，并且其中，所述方法包括使用所述内部电阻器的电阻值随时间的减小作为可能的人接触的指示。

7.根据前述权利要求中任一项所述的方法，其中，待检测的电流响应包括响应于所述脉冲序列而按顺序检测或接收的多个电流脉冲的电流脉冲形状。

8.根据权利要求7所述的方法，其中，方法包括根据所述多个电流脉冲的所述电流脉冲形状来确定所述第一电容器的电容值，以及确定所述第一电容器的电容值是否随时间增加，并且其中，所述方法包括使用所述第一电容的电容值随时间的增加作为在所述检测表面处的可能的人接触的指示。

9.根据前述权利要求中任一项所述的方法，其中，所述阻抗桥包括电阻器-电容器第二RC桥，所述电阻器-电容器第二RC桥包括具有第二电阻值的第二电阻器(R₂)和具有第二电容值的第二电容器(C₂)的并联连接，并且所述内部电阻器R₀将所述第一RC桥和所述第二RC桥互连。

10.根据前述权利要求中任一项所述的方法，其中，所述方法包括参考峰值电流和/或稳态电流和/或脉冲形状随时间或随所述多个电压脉冲的变化来确定在所述导电表面处是否存在可能的活体接触。

11.根据前述权利要求中任一项所述的方法，其中，所述电压脉冲在过渡时间内从所述第一电压电平过渡到所述第二电压电平，所述过渡时间比所述阻抗桥的所述特征上升时间和/或所述第一RC并联连接的所述电路上升时间短，使得所述电流响应包括作为所述内部电阻器(R₀)的特性的峰值电流。