[发明专利]使用经引导电磁场确定非均匀样本的特性的层析成像系统及方法在审
| 申请号: | 201980028253.0 | 申请日: | 2019-04-12 |
| 公开(公告)号: | CN112020644A | 公开(公告)日: | 2020-12-01 |
| 发明(设计)人: | T·L·卡戈尔 | 申请(专利权)人: | 斯派克特罗姆公司 |
| 主分类号: | G01N27/00 | 分类号: | G01N27/00;G01N27/02;G01N27/22;G01R27/00;G01R27/26;H03K3/00 |
| 代理公司: | 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 | 代理人: | 章蕾 |
| 地址: | 美国弗*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 使用 引导 电磁场 确定 均匀 样本 特性 层析 成像 系统 方法 | ||
1.一种用于通过引导电场穿过非均匀电介质样本的传播来确定所述非均匀电介质样本内特定区域的特性的系统,所述系统包括:
至少一个电磁能量源,其用于产生电磁波形,所述电磁波形包括沿着界定电场传播穿过的一系列空间区域的指定路径传播的所述电场,所述指定路径包括确定沿着所述指定路径的电场传播的速率的电场调制元件;
多个导体,其用于引导所述电场在所述指定路径中穿过非均匀电介质样本传播,当所述电场沿着所述指定路径传播时,所述电场跨越所述多个导体中的两者或更多者之间,所述多个导体在所述非均匀电介质样本的外部;及
多个测量点,其用于确定沿着所述指定路径传播的所述电场的测量,所述电场的所述测量用于确定所述非均匀电介质样本的区域介电特性及所述非均匀电介质样本内所述特定区域的介电特性。
2.根据权利要求1所述的系统,其中用于引导所述电场在所述指定路径中穿过所述非均匀电介质样本传播的所述多个导体包括平行于第二导体的第一导体。
3.根据权利要求1所述的系统,其中用于引导所述电场在所述指定路径中穿过所述非均匀电介质样本传播的所述多个导体包括平行导体对阵列。
4.根据权利要求3所述的系统,其中所述平行导体对阵列中的每一对在所述非均匀电介质样本的相对侧上相对。
5.根据权利要求3所述的系统,其中所述平行导体对阵列中的每一对在所述非均匀电介质样本的同一侧上彼此相邻。
6.根据权利要求1所述的系统,其中沿着所述指定路径的所述电磁波形跨所述多个导体排序,所述经排序电磁波形用于创建电场传播的动态指定传播路径及动态速率。
7.根据权利要求1所述的系统,其中用于引导所述电场在所述指定路径中穿过所述非均匀电介质样本传播的所述多个导体包括离散导体阵列。
8.根据权利要求7所述的系统,其中沿着所述指定路径的所述电磁波形跨所述离散导体阵列的对排序,所述经排序电磁波形用于创建电场传播的动态指定传播路径及动态速率。
9.根据权利要求1所述的系统,其中确定沿着所述指定路径的电场传播的所述速率的所述电场调制元件包括物理延迟结构,所述物理延迟结构减慢沿着所述指定路径的电场传播的所述速率且减小沿着所述指定路径的电磁波的速度。
10.根据权利要求1所述的系统,其中确定沿着所述指定路径的电场传播的所述速率的所述电场调制元件包括电子组件,所述电子组件控制沿着所述指定路径的电场传播的所述速率且控制沿着所述指定路径的电磁波的速度。
11.根据权利要求1所述的系统,其中确定沿着所述指定路径的电场传播的所述速率的所述电场调制元件包括有源电子组件,所述有源电子组件产生电场以屏蔽寄生效应。
12.根据权利要求1所述的系统,其中对沿着所述指定路径传播的所述电场的所述测量测量沿着所述指定路径传播的所述电场的电压、电流、相位及强度中的一或多者。
13.根据权利要求1所述的系统,其进一步包括:
至少一个处理器;及
存储处理器可执行指令的存储器,其中所述至少一个处理器经配置用于在执行所述处理器可执行指令时实施以下操作:
确定所述非均匀电介质样本内所述特定区域的有效介电常数;
确定所述非均匀电介质样本内所述特定区域的所述有效介电常数是否与沿着所述指定路径的所述电场传播的所述速率一致;
当所述非均匀电介质样本内所述特定区域的所述有效介电常数与沿着所述指定路径的所述电场传播的所述速率不一致时,调制沿着所述指定路径的所述电场传播;
使用穿过所述非均匀电介质样本内所述特定区域的所述电场传播来测量波形;及
使用所述波形确定所述非均匀电介质样本内所述特定区域的特征。
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