[发明专利]用于超导带材的质量控制的设备

权利要求书

1.一种用于超导带材的质量控制的设备，包括：

(a)至少两个辊，所述至少两个辊接触超导带材并适于向所述超导带材中注入电流；和

(b)至少两个测量触点，所述至少两个测量触点接触所述超导带材并适于测量沿所述超导带材的电压；和

(c)冷却区，所述冷却区适于将所述超导带材冷却至其临界温度以下，

其中，所述至少两个辊和所述至少两个测量触点位于所述冷却区的内部，以及

其中，所述冷却区适于将所述辊保持在第一温度下并且将所述测量触点保持在第二温度下，其中，所述第一温度低于所述第二温度。

2.根据权利要求1所述的设备，其中，所述第一温度比所述第二温度低至少2K。

3.根据权利要求1或2所述的设备，其中，所述至少两个辊各自均具有轴，所述轴部分地位于所述冷却区的外部并且在所述冷却区的外部被滑动触点电接触。

4.根据权利要求3所述的设备，其中，驱动马达在所述冷却区的外部附接至所述轴。

5.根据权利要求1至4中任一项所述的设备，其中，所述设备包括至少四个辊，其中，两个辊处于相同的第一电势并从相反侧接触所述超导带材，另外两个辊处于相同的第二电势并从相反侧接触所述超导带材。

6.根据权利要求1至5中任一项所述的设备，其中，所述辊被水平地布置。

7.根据权利要求1至6中任一项所述的设备，其中，所述超导带材围绕每个辊的缠绕角均独立地为120°至240°。

8.根据权利要求1至7中任一项所述的设备，其中，所述设备包括至少四个测量触点。

9.根据权利要求1至8中任一项所述的设备，其中，所述测量触点之间的距离是可变的。

10.根据权利要求1至9中任一项所述的设备，其中，所述设备包括控制器，所述控制器适于基于在所述测量触点之间测得的电压来控制注入所述超导带材中的电流。

11.根据权利要求1至10中任一项所述的设备，其中，所述设备包括就在所述超导带材进入所述冷却区之前的、用于所述超导带材的预冷却区。

12.根据权利要求1至11中任一项所述的设备，其中，所述设备是对称的，使得所述超导带材能以相同的方式在两个方向上移动。

13.根据权利要求1至12中任一项所述的设备，其中，所述设备适于注入随时间周期性变化的电流。

14.一种用于对超导带材进行质量控制的方法，包括：在低于所述超导带材的临界温度的第一温度下注入电流，以及在所述超导带材的临界温度以下的第二温度下测量沿所述超导带材的电压，其中所述第二温度高于所述第一温度。