[发明专利]用于控制X射线图像采集系统中的防散射栅格的位置的设备、系统和方法在审

专利信息
申请号: 201980022580.5 申请日: 2019-03-25
公开(公告)号: CN111918609A 公开(公告)日: 2020-11-10
发明(设计)人: P·J·维塔根;E·胡梅尔;P·G·范德哈尔;F·S·B·范尼亚纳滕;J·A·范鲁伊杰恩 申请(专利权)人: 皇家飞利浦有限公司
主分类号: A61B6/00 分类号: A61B6/00
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 72002 代理人: 刘兆君
地址: 荷兰艾*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 用于 控制 射线 图像 采集 系统 中的 散射 栅格 位置 设备 方法
【权利要求书】:

1.一种X射线图像采集系统(20),包括:

X射线辐射源(22)和X射线探测器(24),所述X射线辐射源和所述X射线探测器被连接到作为支撑结构(32)的至少一个C型臂(38);

防散射栅格(26),其被布置在对象接收空间(36)与所述X射线探测器(24)之间,以及

用于控制所述防散射栅格的位置的设备(10),包括:

测量单元(12);

控制单元(14);以及

移位单元(16);

其中,所述测量单元(12)被配置为确定相对于所述X射线探测器的所述X射线辐射源的X射线束聚焦位置(37);

其中,所述控制单元(14)被配置为基于所述X射线束聚焦位置(37)和所述防散射栅格的栅格聚焦位置(35)之间的位移(18)来生成移位信号,并且

其中,基于所述移位信号,所述移位单元(16)被配置为使所述防散射栅格在至少一个方向上移位,以使所述防散射栅格与所述X射线束聚焦位置(37)对齐。

2.根据权利要求1所述的系统,其中,所述防散射栅格包括在8:1至16:1的范围内的栅格比。

3.根据权利要求1或2所述的系统,其中,所述控制单元(14)被配置为基于对由所述X射线探测器采集的X射线图像的分析来确定所述位移。

4.根据任一前述权利要求所述的系统,其中,所述移位单元(16)被配置为在被布置在与所述X射线探测器的X射线撞击表面平行的平面中的至少一个方向上对所述防散射栅格进行移位。

5.根据任一前述权利要求所述的系统,其中,所述移位单元(16)被配置为在两个方向上对所述防散射栅格进行移位。

6.根据任一前述权利要求所述的系统,其中,所述移位单元(16)包括至少一个控制构件,所述至少一个控制构件被配置为移动所述防散射栅格。

7.根据任一前述权利要求所述的系统,其中,所述测量单元(12)被配置为在利用所述X射线图像采集系统采集X射线图像期间确定所述X射线束聚焦位置(37)。

8.根据任一前述权利要求所述的系统,其中,所述X射线辐射源(22)和所述X射线探测器(24)被安装在所述至少一个C型臂(38)的相对的部分(31、33)上;并且

其中,所述C型臂(38)被配置为将两个相对的附接部分(31、33)围绕所述对象接收空间(36)旋转。

9.根据任一前述权利要求所述的系统,其中,所述控制单元(14)被配置为基于所述X射线探测器(24)的角位置、速度和/或加速度来生成所述移位信号。

10.一种用于控制C型臂X射线图像采集系统中的防散射栅格的位置的方法,所述方法(100)包括以下步骤:

a)使用测量单元确定(101)相对于所述C型臂X射线图像采集系统的X射线探测器的所述C型臂X射线图像采集系统的X射线辐射源的X射线束聚焦位置;

b)使用控制单元基于所述X射线束聚焦位置与栅格聚焦位置之间的位移来生成(103)移位信号:

c)使用所述移位单元基于所述移位信号来在至少一个方向上对所述防散射栅格的所述位置进行移位(104),以使所述防散射栅格与所述X射线辐射源中的所述X射线束聚焦位置对齐。

11.一种用于控制根据权利要求1至9中的一项所述的系统的计算机程序单元(40),所述计算机程序单元在由处理单元运行时适于执行根据权利要求10所述的方法的步骤。

12.一种存储有根据权利要求11所述的程序单元(40)的计算机可读介质(50)。

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