[发明专利]用于建立温度梯度的设备和方法有效
| 申请号: | 201980022401.8 | 申请日: | 2019-01-29 |
| 公开(公告)号: | CN111919074B | 公开(公告)日: | 2022-11-18 |
| 发明(设计)人: | 杰拉尔德·博姆;鲁道夫·希尔施曼纳;齐格弗里德·迈尔霍费尔 | 申请(专利权)人: | 杰拉尔德·博姆;鲁道夫·希尔施曼纳;齐格弗里德·迈尔霍费尔 |
| 主分类号: | F25B21/00 | 分类号: | F25B21/00 |
| 代理公司: | 北京嘉和天工知识产权代理事务所(普通合伙) 11269 | 代理人: | 王维;严慎 |
| 地址: | 奥地利塔亚*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 用于 建立 温度梯度 设备 方法 | ||
1.一种用于建立温度梯度的设备(1),所述设备(1)具有至少一个气密工作空间(5),所述至少一个气密工作空间(5)具有连接到第一电极(2)的第一边界层(6)和连接到第二电极(3)的第二边界层(7),其中当电压在所述工作空间(5)中被施加于所述第一电极(2)和所述第二电极(3)之间时,电场可以在所述第一边界表面(6)和所述第二边界表面(7)之间被生成,并且其中所述第一边界表面(6)和所述第二边界表面(7)之间的距离小于5000nm,其特征在于,所述第一边界表面(6)包括至少一个场增强装置,特别是尖端(8),以使得如果电压被施加于所述电极(2、3),则所述场增强装置的区域中的电场的场强度大于所述工作空间(5)中的电场的平均场强度。
2.如权利要求1所述的设备(1),其特征在于,所述场增强装置处的电场强度比所述工作空间(5)中的平均电场强度大至少10倍,优选地100倍,特别是1000倍。
3.如权利要求1或2所述的设备(1),其特征在于,所述场增强装置被实施为至少在端侧为大致锥形,并且具有小于30°的锥角。
4.如权利要求1至3之一所述的设备(1),其特征在于,所述场增强装置与所述第二边界表面(7)的距离小于所述第一边界表面(6)和所述第二边界表面(7)之间的最大边界表面间隔(10)的90%,优选地小于80%。
5.如权利要求1至4之一所述的设备(1),其特征在于,所述工作空间(5)被实施为使得当电压被施加于所述电极(2、3)之间时,电场在所述工作空间(5)中被获得,所述电场在所述工作空间(5)的大于50%以上基本上是均匀的,优选地所述工作空间(5)的大于70%以上,特别是所述工作空间(5)的大于90%以上。
6.如权利要求1至5之一所述的设备(1),其特征在于,所述工作空间(5)被实施为使得当电压被施加时,电场在所述工作空间(5)中被形成,所述电场在与所述至少一个场增强装置间隔小于1000nm、特别是小于500nm、优选地小于200nm的区域的外部基本上是均匀的。
7.如权利要求1至6之一所述的设备(1),其特征在于,所述场增强装置被实施为尖端(8),并且在一端处具有小于10nm2、特别是小于5nm2的面积。
8.如权利要求1至7之一所述的设备(1),其特征在于,所述第一边界表面(6)和所述第二边界表面(7)被实施为基本上平坦的。
9.如权利要求1至8之一所述的设备(1),其特征在于,气体被布置在所述工作空间(5)中,所述气体具有小于5000nm、特别是小于1000nm、优选地大约500nm的自由路径长度。
10.如权利要求1至9之一所述的设备(1),其特征在于,具有低离子化能量的气体、特别是氩、氙、C60、C60F60、碘、SF6或UF6被布置在所述工作空间(5)中。
11.如权利要求1至10之一所述的设备(1),其特征在于,电子气体被布置在所述工作空间(5)中。
12.如权利要求1至11之一所述的设备(1),其特征在于,锂、钠、钾、铷和/或铯被布置在所述工作空间(5)中,优选地以等离子体状态。
13.如权利要求1至12之一所述的设备(1),其特征在于,所述第二边界表面(7)由电介质、特别是玻璃形成。
14.如权利要求1至13之一所述的设备(1),其特征在于,所述第二边界表面(7)仅经由电介质连接到所述第二电极(3)。
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